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开关特性是由器件在开关过程中的驱动电压、端电压、端电流表示的功率半导体开关器件最重要的特性之一。 一般来说，双脉冲测试可用于设备评估，在电路设计中直接测量运行中变换器上的设备波形。 为了得出正确的结论，准确的开关过程波形非常重要。 高压差分探头的为差分输入且输入阻抗高，在电源开发过程中一般都会选择它来测量驱动波形。 有时在使用高压差分探头时获得的驱动波形显得非常粗，这往往是由于高压差分探头的衰减倍数过大导致的。衰减倍数大，高压差分探头的量程就大，使得分辨率大幅下降，同时示波器在还原信号时还会将噪声放大。此时就需要选择衰减倍数较小的高压差分探头或选择高压差分探头衰减比较小的档位。我们使用下图中的高压差分探头测量驱动电压，衰减倍数分别选择50倍和500倍，在下图中可以明显到500倍衰减倍数下驱动波形非常粗。 50倍与500倍衰减波形对比 示意图为泰克高压差分探头 以上高压差分探头导致的驱动电压离谱的原因，如您使用中还有其他问题，欢迎登陆西安普科电子科技www.prbtek.com进行详细了解 西安普科电子科技有限公司公司目前致力于示波器测试附件配件研发、生产、销售，涵盖产品包含电流探头、差分探头、高压探头、无源探头、电源纹波探头、柔性电流探头、近场探头、逻辑探头、功率探头和光探头等。
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