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[AT32F403/403A]

AT32F435 ADC上电自校准值不一致

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楼主
linjinming2000|  楼主 | 2022-8-29 22:25 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
ADC, 435, AT32F4, ST, STM, STM32
使用AT32F435的ADC，ADC时钟频率为56MHz，ADC上电后执行校准，校准值每次开机不一致，有时是0x35、有时是0x36，误差1LSB左右，在应用中会造成大约0.05%的误差，使用STM32的ADC没有这个问题，请问有什么可以改善的吗？还有ADC不稳定，输入同样的直流电压，ADC采集按照16倍过采样，数据有7 ~ 8个码的波动，感觉没有STM32的ADC稳定

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沙发
戊戌变法| | 2022-8-30 11:58 | 只看该作者
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板凳
hoop| | 2022-9-2 09:24 | 只看该作者
可以查阅datasheet ，一般综合误差是1~2个LSB。应用可以按照datasheet里面的建议设计匹配阻抗，保障数据的准确性。
还有因为adc 采样的本质是对内部采样电容充放电的过程，当采样周期不足时，充放电时间不够，对应的就容易出现串扰等因素而数据不准

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地板
hoop| | 2022-9-2 09:25 | 只看该作者
其中AT和ST的综合误差实际差不多，都是1~2个LSB

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5楼
redone| | 2022-9-2 21:39 | 只看该作者
是不是低位有些差别，很正常的

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6楼
Henryko| | 2022-9-7 21:34 | 只看该作者
有些误差也是正常

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7楼
chenjianlin| | 2022-9-12 14:37 | 只看该作者
stm32同样 校准值误差1个字。 根据实践取最大校准值更准确点。可以用软件确定每次校准值都一样，这样就可以减少这个1sb

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8楼
linjinming2000|  楼主 | 2022-9-13 15:11 | 只看该作者
我现在用选项字空间存储ADC校准值，每次校准后比较校准值和存储值之间的差值，然后再对ADC结果进行补偿，可以消除校准不同对测量精度的影响

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