本帖最后由 麻花油条 于 2022-9-14 14:47 编辑
1.JTAG简介目前RISC-V官方支持的调试方式是JTAG(Joint Test Action Group)，而ARM支持的调试方式有JTAG和SWD(Serial Wire Debug)这两种。 JTAG是一种国际标准的调试方式(IEEE1149.1)，而SWD是ARM开发的。 标准JTAG采用四线方式，分别是TCK、TMS、TDI和TDO，有一个可选的TRST引脚。 - TCK：测试时钟输入。
- TMS：测试模式选择。
- TDI：测试数据输入。
- TDO：测试数据输出。
在调试时需要用到一个工具，比如JLink或者CMSIS-DAP，对于这个工具，在这里称为JTAG主机(JTAG host)，而嵌入在芯片内部的JTAG称为JTAG从机(JTAG slave)，需要注意的是上面这些信号的输入输出方向是对于JTAG从机来说的。下文中如无特别说明，JTAG都是指JTAG从机。 一个JTAG主机可以同时对多个JTAG从机进行调试，这通过JTAG扫描链(JTAG Scan Chain)完成，如图1所示。 图1 一个JTAG主机连接多个JTAG从机
JTAG内部有一个TAP(Test Access Port)控制器(或者说状态机)，通过TCK和TMS信号来改变状态机的状态。这个状态机的核心是两路SCAN，分别是IR SCAN和DR SCAN，TAP状态机如图2所示。 图2 TAP状态机
箭头上的0或1表示的是TMS信号的电平。JTAG在每一个TCK信号的上升沿采样TMS信号和TDI信号，决定状态机的状态是否发生变化，在每一个TCK信号的下降沿输出TDO信号。可以看到，无论TAP目前处于哪一个状态，只要TMS保持高电平并持续5个TCK时钟，则TAP一定会回到Test-Logic-Reset状态。 JTAG内部有一个IR(instruction register)寄存器和多个DR(data register)寄存器，IR寄存器决定要访问的是哪一个DR寄存器。DR寄存器有IDCODE、BYPASS等。在Test-Logic-Reset状态下IR寄存器默认选择的是IDCODE这个DR寄存器。 JTAG主机通过IR SCAN设置IR寄存器的值，然后通过DR SCAN来读、写相应的DR寄存器。 | 
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