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[勘误/QA]

N32G031勘误手册

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sy12138|  楼主 | 2022-10-26 11:03 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
#技术资源#

附件是N32G031勘误手册中英双版,里面包含一些芯片应用中遇到的高频次问题及解决方法,请下载查看。

ES_N32G031系列勘误手册V1.1.pdf

342.22 KB

ES_N32G031 Series Errate Sheet V1.1.pdf

341.13 KB

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沙发
mcuzhuanyong| | 2022-11-15 17:41 | 只看该作者
IO防倒灌 这个问题解决了吗?应用在BMS上会不会有风险?

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板凳
sy12138|  楼主 | 2022-11-18 10:00 | 只看该作者
只要按照VDD先于IO上电设计电路,就不会发生倒灌,不会有倒灌的风险

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地板
sy12138|  楼主 | 2022-11-18 10:00 | 只看该作者
mcuzhuanyong 发表于 2022-11-15 17:41
IO防倒灌 这个问题解决了吗?应用在BMS上会不会有风险?

只要按照VDD先于IO上电设计电路,就不会发生倒灌,不会有倒灌的风险

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GGG3| | 2022-11-22 09:53 | 只看该作者
勘误手册还是靠谱的

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mcuzhuanyong| | 2023-5-31 14:07 | 只看该作者
sy12138 发表于 2022-11-18 10:00
只要按照VDD先于IO上电设计电路,就不会发生倒灌,不会有倒灌的风险

BMS应用中,有些供电会受控于AFE器件,由于某些原因AFE发生故障或者复位,导致MCU供电不稳,此时IO可能会有电压灌入。 建议国民后续全系列能增加IO防倒灌设计

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