如“一般测量方法”中所提到的，探头的连接方法对测量到的波形影响很大。为了确认这一点，下面我们将对常见的探头连接方法所造成的测量波形差异进行比较。
(a)将探头直接与DUT引脚连接
(b)剥离绞合线绝缘层，用线芯连接探头
(c)给长绞线分别插入100Ω的阻尼电阻并连接探头
(d)给短绞线分别插入100Ω的阻尼电阻并连接探头
(a)是将电压探头的头部直接与DUT引脚连接。（b）是将加工成绞合线的约12cm的延长线的一端与DUT引脚焊接在一起，并将另一端与电压探头的头部连接。（c）是在（b）延长线的中间插入100Ω的电阻。（d）是在将（b）的线长缩短为约4cm后的延长线中间插入100Ω的电阻。图5为实际使用的延长线，图6为连接探头后的状态。
実際の延長ケーブル。左から、(b)12cmの延長ケーブル、(c)12cmの延長ケーブル+100Ω、(d)4cmの延長ケーブル+100Ω
图5.实际的延长线
実際に各電圧プローブを取り付けた写真。上段左：(a)直接接続、上段右：(b)12cmの延長ケーブル、下段左：(c)12cmの延長ケーブル+100Ω、下段右：(d)4cmの延長ケーブル+100Ω
图6.与各电压探头实际连接后的照片
图7是按照图6中(a)～(d)的连接方式实施双脉冲测试时的栅-源电压波形比较结果。当我们观测换流侧LS的栅-源电压时，可以看到不同的测量方法其波形有明显差异。
（a）在导通时，当HS MOSFET的开关工作开始、电流发生变化时，在穿透由图8所示的电压探头头部形成的环路内部的方向上会产生磁通量变化。而且，该磁通量变化还会在探头头部的环路中产生顺时针的电动势，因此可以看到，在观测到的波形中似乎出现了负浪涌。本来应该像（c）和（d）一样产生正向浪涌（*3）。
在（b）中，受高速开关影响，延长线的阻抗诱发振铃，可以观测到发生了较严重的浪涌。
図6の(a)～(d)の取り付け方によるダブルパルス試験でのゲート－ソース間電圧波形の比較。左：ターンオン波形、右：ターンオフ波形
图7.按照图6中（a）～（d）的连接方法实施双脉冲测试时的栅-源电压波形比较 |
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