FPGA电路动态老化技术研究

登录 · 发表于 2012-4-18 20:57

今年来，随着FPGA电路在军工和航天领域的广泛应用，用户对FPGA电路的可靠性要求也越来越高。在集成电路的可靠性评估试验中，动态老化试验是罪重要的试验之一，FPGA动态老化技术的实现可以提高FPGA电路的可靠性。**通过研究生FPGA电路内部结构和功能模块，讨论FPGA电路加载配置过程中的原理和流程，通过对动态老化和静态老化的对比试验和结果分析，研究出FPGA电路动态老化试验方法，并在工程实践中得到了成功的实现和应用。

发表于 2012-4-18 20:57

都很初级的啦

发表于 2012-4-18 21:22

楼主资料好多呀

发表于 2012-4-19 09:59

楼主分享的资料不错啊

发表于 2012-4-19 15:08

:handshake

发表于 2012-4-19 19:47

LZ辛苦了。

发表于 2012-4-20 08:55

:lol

发表于 2012-4-20 09:20

楼主分享的

资料不错啊

发表于 2012-9-4 19:40

电路老化这个问题我是第一次遇到也是第一次思考我感觉电路老化主要与工作环境有关包括温度湿度雨水灰尘等这也是一门学问钻研钻研

发表于 2013-10-21 14:19

我想问一下，论文里用的是通过配置芯片进行主串模式配置，电路温度要加到125度，那配置芯片受得了吗？还有观察的LED，也是不耐高温的，请问是怎么处理的呢？谢谢！

发表于 2013-10-21 23:24

谢谢啦

FPGA电路动态老化技术研究

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