【新定义MCU开发板测评】+ EBS002EBS003配合测试

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forgot|

楼主 | 2023-2-11 21:14 | 只看该作者 |只看大图回帖奖励

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LED, TE, MCU, 新定义, 测试, 开发板

本帖最后由 forgot 于 2023-2-11 21:31 编辑

  前面分别体验了一下EBS002和EBS003的DEMO_CODE，发现硬件设计的挺好的，两个的插针模块跟原来的RD8T36主板的插针都是对起来的，就是因为PIN的复用问题，很多功能不能一起编译使用，但是看了一下，EBS002的NTC电阻ADC+数码管的DDIC与EBS003的USCI0肯定是不冲突的，这样把两个板子叠起来，不就可以实现功能交互了吗？

  首先复制一份FUNCTIONDEMO_NBK_RD8x3x_EBS003，然后移植一下ADC_DDIC_TEMPERATURE_NBK_RD8x3x_EBS002里面的部分.c文件，主要是数码管驱动和ADC采样部分，还有一点定时器0的代码，因为采样频率50ms是由定时器提供的。
  添加一点液晶显示的代码，就可以实现，采集002的NTC温度然后显示在003的液晶屏上了。

复制

void main(void)

{        

        char buf[10];

        char *stemp = buf;

        

        IcResourceInit();

        OLED_Init();        

        OLED_Clear();

        while(1){

                        sprintf(stemp,"%d",TEMP);

                        OLED_ShowString(10,0,CharData,16);

                        OLED_ShowString(10,2,CharData2,16);

                        OLED_ShowString(10,4,CharData3,16);

                        OLED_ShowString(55,6,stemp,16);        

                        if(T0Flag50ms){

                                        T0Flag50ms=0;

                                        LedDisp();

                                        GetADCValue();

                                        GetTemperature();

                                        Led_DisplayData(TEMP%10,TEMP/10,TempSign,16);

                        }

        }

}