[STM32F1] 对stm32的内存进行压力测试,有什么好的方法没?

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 楼主| huanghuac 发表于 2023-2-12 10:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
对stm32的内存进行压力测试,有什么好的方法没?
heweibig 发表于 2023-2-12 10:46 | 显示全部楼层
对内存压力测试啥意思
zhanghqi 发表于 2023-2-12 11:21 | 显示全部楼层
楼主的想法是什么?
zhenykun 发表于 2023-2-12 11:23 | 显示全部楼层

是要看硬件好不好使?还是测速什么的
wyjie 发表于 2023-2-12 11:24 | 显示全部楼层
写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 .....

周而复始
jlyuan 发表于 2023-2-12 11:27 | 显示全部楼层
你按大数据读写然后搞个串口打印
xxrs 发表于 2023-2-12 11:29 | 显示全部楼层
先明确“压力测试”的概念和内容。
gongche 发表于 2023-2-12 11:30 | 显示全部楼层
在不同的温度下对32的内存不停的进行读、写、校验。看读写的数据是否是一致的
xxrs 发表于 2023-2-12 11:31 | 显示全部楼层
写入特定的一组数据,然后读出直接比较就是,或者简单做个累加和校验也就行了
chenjunt 发表于 2023-2-12 11:32 | 显示全部楼层
你的这个测试纯属多余,ST的产品只要在器件手册载明的工作温度范围内,随你怎么对内存读写多少次都决不可能出错
xxrs 发表于 2023-2-12 11:40 | 显示全部楼层
用累加和足矣,当然CRC也没什么难的。
zhaoxqi 发表于 2023-2-12 11:46 | 显示全部楼层
不一定是多余的,据我所知,在一些要求比较高的场合确实需要这样的测试。
xxrs 发表于 2023-2-12 11:47 | 显示全部楼层
比如在IEC61508,功能安全认证中,对MCU就有各种功能模块的校验与测试,而且是在程序运行过程中进行。
wenfen 发表于 2023-2-12 11:49 | 显示全部楼层
没试过,但是你可以试试
xxmmi 发表于 2023-2-12 11:50 | 显示全部楼层
肯定不多余啊,不同的硬件设计电源走线会有影响的,尤其外挂存储
wenfen 发表于 2023-2-12 11:52 | 显示全部楼层
外部RAM可以做耐压测试,内部没有必要,大批量产了都已经;
happy_10 发表于 2023-2-12 12:00 | 显示全部楼层
什么叫内存压力
tian111 发表于 2023-2-12 12:02 | 显示全部楼层
不明白什么叫压力测试
songqian17 发表于 2023-2-12 12:03 | 显示全部楼层
内存有什么压力
chenho 发表于 2023-2-12 12:04 | 显示全部楼层
怎么叫内存的压力测试啊
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