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对stm32的内存进行压力测试,有什么好的方法没?

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楼主
huanghuac|  楼主 | 2023-2-12 10:45 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
对stm32的内存进行压力测试,有什么好的方法没?

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沙发
heweibig| | 2023-2-12 10:46 | 只看该作者
对内存压力测试啥意思

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板凳
zhanghqi| | 2023-2-12 11:21 | 只看该作者
楼主的想法是什么?

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地板
zhenykun| | 2023-2-12 11:23 | 只看该作者

是要看硬件好不好使?还是测速什么的

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5
wyjie| | 2023-2-12 11:24 | 只看该作者
写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 写 读 检验 .....

周而复始

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6
jlyuan| | 2023-2-12 11:27 | 只看该作者
你按大数据读写然后搞个串口打印

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7
xxrs| | 2023-2-12 11:29 | 只看该作者
先明确“压力测试”的概念和内容。

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8
gongche| | 2023-2-12 11:30 | 只看该作者
在不同的温度下对32的内存不停的进行读、写、校验。看读写的数据是否是一致的

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9
xxrs| | 2023-2-12 11:31 | 只看该作者
写入特定的一组数据,然后读出直接比较就是,或者简单做个累加和校验也就行了

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10
chenjunt| | 2023-2-12 11:32 | 只看该作者
你的这个测试纯属多余,ST的产品只要在器件手册载明的工作温度范围内,随你怎么对内存读写多少次都决不可能出错

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11
xxrs| | 2023-2-12 11:40 | 只看该作者
用累加和足矣,当然CRC也没什么难的。

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12
zhaoxqi| | 2023-2-12 11:46 | 只看该作者
不一定是多余的,据我所知,在一些要求比较高的场合确实需要这样的测试。

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13
xxrs| | 2023-2-12 11:47 | 只看该作者
比如在IEC61508,功能安全认证中,对MCU就有各种功能模块的校验与测试,而且是在程序运行过程中进行。

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14
wenfen| | 2023-2-12 11:49 | 只看该作者
没试过,但是你可以试试

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15
xxmmi| | 2023-2-12 11:50 | 只看该作者
肯定不多余啊,不同的硬件设计电源走线会有影响的,尤其外挂存储

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wenfen| | 2023-2-12 11:52 | 只看该作者
外部RAM可以做耐压测试,内部没有必要,大批量产了都已经;

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happy_10| | 2023-2-12 12:00 | 只看该作者
什么叫内存压力

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tian111| | 2023-2-12 12:02 | 只看该作者
不明白什么叫压力测试

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19
songqian17| | 2023-2-12 12:03 | 只看该作者
内存有什么压力

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chenho| | 2023-2-12 12:04 | 只看该作者
怎么叫内存的压力测试啊

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