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5G的核心应用是物联网、车联网、大数据的采集等应用领域，其中手机3D摄像头、激光雷达、无人驾驶传感器等器件，实际应用中往往是工作在窄脉冲大电流的工作条件下。例如，手机3D 摄像头的核心器件是VCSEL的半导体激光器阵列，在一个很小面积上，往往有几十至几百颗激光器IC阵列。在实际应用时，需要给激光器提供超窄脉冲电流，驱动激光器发出一个超窄脉冲的激光，而这个超窄脉冲电流大小与探测距离密切相关，往往需要脉冲电流达到20A以上，脉冲宽度越小越好，需要达到μs甚至ns级。这个激光器阵列IC，以及在后续序列封装的测试时，必须要有一个达到30A的超窄脉冲电流源。激光器芯片的测试比较复杂，牵涉到光、电的测量，也要考虑封装形式的区别。
激光器芯片的测量一般都要看LIV(光强-电流-电压)数据，光电参数受热的影响比较大，随着温度的升高，将直接影响激光器输出功率、阈值电流密度、电光转化效率、微分量子效率、偏振度等性能，并导致半导体激光器寿命和可靠性的下降，甚至会损毁芯片，最终影响器件可靠性。另外，大功率激光器芯片在直流以及宽脉冲下的测试结果不准;电源的波动将会影响激光器的寿命，同时会造成光功率不稳定及器件发热不稳定等。 激光器LIV窄脉冲测试系统典型方案 光器件测试仪器的研究与开发，技术上涉及前沿的小信号处理技术、射频电路技术、高速电路技术、数字信号处理技术、嵌入式软件开发技术、自动控制技术、工程技术等，综合性很强，需要企业在自己的领域内有较长时间的技术与理论积累，进入门坎高。为了满足激光器产业链对窄脉冲LIV测试的需求，普赛斯仪表与多应用领域的头部企业进行了深入的探讨，基于多年的技术沉淀与创新，推出了PL窄脉冲LIV测试系统。 PL系列窄脉冲LIV测试系统由PL系列脉冲恒流源、测试夹具、积分球、光纤、光谱仪等组成。测试原理LIV测试采用对激光器脉冲电流供电，测量器件两端电压和器件输出光功率。LIV测试系统作为精密的电流脉冲源，驱动激光器发出不同波长的激光，激光经过特制的积分球来进行收光，积分球将具有一定发散角的光进行能量衰减，然后使用PD进行光电转换，系统对光电流进行快速采样，从而达到精准测算激光器所输出的激光功率。经典的测试原理配合PL测试系统出色的性能和严格的指标要求，帮助行业用户完成了一系列富有挑战的测试项目。
系统优势 集多表功能于一体，实现一机多用：快速脉冲发生器+程控电流源+峰值取样光功率计+脉冲电压表 通过15MS/s的数字化功能，实现脉冲发生器0.1%基本测量精度;超窄至ns级的脉冲，占空比可低至0.01%;多个精密光电流测试量程;上位机LIV算法，支持各种参数的自动计算
脉冲高保真 脉冲无过冲、无振荡 最快脉冲上升时间300A/μs最大30A脉冲电流输出;兼容CW和QCW模式，精密的脉冲宽度可调节技术;超高速脉冲采样技术，确保在窄脉冲下采样数据准确
更大的测试电流，实现更多的可能可以通过并联多达4台PL系列设备;提供最大120A、μs级脉宽的驱动电流;同一个上位机软件上实现大功率激光器的LIV测试 上位机测试软件丰富，功能强大系统配有专用上位机软件;实现快速测试，提高测试效率。
在激光器光谱特性等光学参数项目测量中，测试机仍需要电流源为器件供电，根据实际应用有CW和QCW模式两种。推荐使用普赛斯PL系列窄脉冲测试系统集成使用，PL系列作为恒流电流源也可同时为光谱仪、其他自动化设备、扩展接口等提供I/O接口及合理设计的测试夹具，从而实现测试机的全参数自动化测试。 典型应用 普
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