器件使用 Cortex®-M3 内核，该内核内含硬件调试模块，支持复杂的调试操作。硬件调试模块允许
内核在取指（指令断点）或访问数据（数据断点）时停止。内核停止时，内核的内部状态和系统的外
部状态都是可以查询的。完成查询后，内核和外设可以被复原，程序将继续执行。
当器件连接到调试器并开始调试时，调试器将使用内核的硬件调试模块进行调试操作。
支持两种调试接口：
• 串行接口
• JTAG 调试接口
注意： Cortex®-M3 内核内含的硬件调试模块是 ARM®CoreSight 开发工具集的子集。
ARM®Cortex®-M3 内核提供集成的片上调试功能。它由以下部分组成：
• SWJ-DP：串行/JTAG 调试端口
• AHP-AP：AHB 访问端口
• ITM：执行跟踪单元
• FPB：闪存指令断点
• DWT：数据触发
• TPIU：跟踪单元接口（仅支持 SWV 异步模式（TRACESWO 会被使用））
它还包含专用于 HK32F39A 的调试特性：
• 灵活的调试引脚分配
• MCU 调试盒（支持低电源模式，控制外设时钟等）
注意：更多 ARMCortex®-M3 内核的调试功能信息，请参考 Cortex®-M3 （ r1p1 版）技术参考手册（ TRM ）
和 CoreSight 开发工具集（ r1p0 版） TRM 。
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