过采样技术是一种以牺牲采样速度来提高ADC分辨率的技术。如果STM32的12位AD,每秒采集10个数据,即采样率为:10/秒。根据过采样技术,每提高1位ADC分辨率,需要增加4倍的采样率。从12位AD提高到14位AD,一共提高了2位,所以需要把采样率提高2 * 2 * 2 * 2 = 16倍。原来在100mS之内只采集一个数据,现在需要在100mS之内采集16个数据了。然后,我们把这16个数据累加,再把累加值右移2位,这样就得到STM32过采样之后的14位ADC。
需要注意的是,过采样技术会限制输入信号的频率。根据采样定律,采样率最少是输入信号的2倍才能将信号还原。当需要提高n位的ADC分辨率时,采样率又得提高4*n倍。STM32的12位ADC的最高采样率为1MHz,如果要达到14位的ADC分辨率,那么输入信号的频率就不能超过:1M/2/15 = 31.25KHz。
最后提醒:分辨率的提升到14位并不是精度也能提升14位。我自己试过提升到16位的分辨率,但是精度大概只有13、14位的样子。
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