本帖最后由 a976209770 于 2023-5-31 15:05 编辑
在测试APM32E103时，使用竞品已经量产的代码进行烧录，并进行了相应的功能测试。进行adc测试时发现实际采集到的ADC数值比之前测得的数值要低0.2V。
为排查问题，首先，使用了APM的库进行了采集测试，发现采集的数值是正常的，说明APM的库没有问题，并且芯片也没有问题。接下来，对比竞品库与APM的库配置差异。经过仔细检查，使用hal库生成的代码中并没有包含ADC校准函数。这可能是导致ADC采集结果偏低或者异常的原因之一。
将用于校准ADC的代码HAL_ADCEx_Calibration_Start()，并将其添加到了hal库生成的代码中，完成了代码的修改后，重新烧录了代码到APM32E103，并进行了测试。这次测试结果显示，ADC采集的数值与预期一致，问题得到了解决。
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