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STM32F4的ADC如何校准?

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楼主
PowerSource|  楼主 | 2012-4-28 23:23 | 显示全部楼层 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
使用STM32F417VGT的ADC测量同一个模拟电压值(比如557.8mV),每次复位后的测量值不一致,有时为554~556mV,有时为557~559mV。之前使用STM32F107ADC开始转换之前可以校准一下,为什么STM32F4没有这个功能呢?这个问题该如何解决?
沙发
PowerSource|  楼主 | 2012-4-29 14:00 | 显示全部楼层
我之前使用过STM32F107试过,ADC数据很稳,而且使用前还可以先校准一下。选芯片的时候考虑到STM32F4的168M速率,选了stm32F417,数据波动较大,后来尝试加滤波电容,然后软件滤波取平均值总算好了一下,但是却发现4系列的ADC没有校准功能,寄存器和1系列都一致,但是那两个校准控制位编程无效了,这是怎么回事?

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板凳
PowerSource|  楼主 | 2012-4-30 10:32 | 显示全部楼层
每次复位后的测量值不一致,这个问题该如何解决?有没有人用过STM32F4的ADC,测量效果怎么样?

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地板
PowerSource|  楼主 | 2012-5-3 11:25 | 显示全部楼层
Vref外接参考电压2.000V没问题吧?

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PowerSource|  楼主 | 2012-5-8 16:28 | 显示全部楼层
本帖最后由 PowerSource 于 2012-5-8 16:37 编辑

STM32F4的ADC软件校准应该是取消了,手册里面应该说明一下(也可能我没看到..)。估计这个取消只是为了软件编程更简洁一些吧!显然,要使用ADC,对1系列而言,总是需要先校准,那么不如ADC使能后自动完成校准。猜测而已,希望能得到确认!

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