本帖最后由 aotumanv1 于 2023-8-1 10:49 编辑
MCU常用开发接口介绍
对嵌入式软硬件调试常用的一些接口定义进行针对性地总结,主要包括DB9、USB、串口、SWD、JTAG。将零碎的知识总结起来,方便工程师归纳统一 1、DB9接口 在旧式的台式计算机中一般会有RS-232 标准的 COM口,即 DB9 接口,如下图 1 所示:
公头 母头
2、USB接口 (1)USB 的发展 USB 先后经历了如下图 2版本。USB1.0(1.5Mbit/s)、USB1.1(12Mbit/s)、USB2.0(480Mbit/s).USB3.0(5Gbit/s)、USB3.1(10Gbit/s)、USB3.2(20Gbit/s)、USB4.0(40Gbit/s)等阶段,
(2)USB分了很多类型,常见的如下图3.所示:Type A、Type B、Mini B、Micro B、Type B 3.0、Micro B 3.0、Type C.
(3)USB 引脚功能及定义:
(4) USB 数据线实物颜色说明
3、USB 转 TTL 电平串口 (1)USB 转TTL 电平串口引线引脚功能及定义:
(2)USB 转TTL 电平串口引线说明:
4、JTAG接口 (1)JTAG(Joint Test Action Group,联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容) 主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议,如ARM、DSP、FPGA 器件等,其引 脚分布如下图 4.
(2)SWD 引脚定义 引脚 4、6、8、10、12、14、16、18、20为GND
(3)SWD 和传统的调试方式区别: SWD 模式比 JTAG 在高速模式下面更加可靠。在大数据量的情况下面 JTAG 下载程序会失败,但是 SWD发生的几率会小很多。基本使用 JTAG 仿真模式的情况下是可以直接使用 SWD 模式的,只要你的仿直器支持,所以推荐大家使用这个模式。当我们的“PCB 板子面积有限的时候推荐使用 SWD 模式,它需要的引脚少
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