本帖最后由 ArterySW 于 2023-8-16 11:20 编辑
AN0175_AT32_MCU_Make_Random_Number
这篇应用笔记为设计者使用AT32芯片时，产生符合应用需求的随机数，提供设计建议。当前产品和生态系统安全性的需求比以往任何时候都更加重要。真随机数是所有安全系统的核心，其质量
会影响设计的安全性。
因此在没有内置硬件TRNG的AT32的微控制器系列中，如何提高随机数的有效，来符合应用的需
求。底下提供两种方法：
提高乱度的方法之一，使用ADC的误差。AT32的微控制器内置最多三个高级12位片上SAR模拟数字
转换器（ADC）并提供自校准功能，保证12位ADC静态准确度（accuracy）可达10位以上。这误差
可以拿来计算随机数的来源。
提高乱度的方法之二，使用上电时SRAM内容的不确定性。SRAM不保证上电时的内容值，每次上电
后，内容也是不容易预测的。我们可以利用这个特性，拿来增加随机数的乱度。
目录
1 概述 ................................................................................................................... 5
2 利用ADC 的误差来源产生随机数的方法 ................................................................. 6
3 利用上电时SRAM 的内容来计算随机数的方式......................................................... 8
4 随机数生成应用指南 ............................................................................................ 9
5 范例运行和分析 .................................................................................................. 10
5.1 硬件资源 ......................................................................................................... 10
5.2 软件资源 ......................................................................................................... 10
5.3 NIST SP800-22b 统计测试集 ............................................................................. 11
5.4 NIST SP800-90b 统计测试集 ............................................................................. 16
AN0175_SourceCode_V2.0.0.zip
(2.94 MB)
AN0175_AT32_MCU_Make_Random_Number_ZH_V2.0.0.pdf
(888.58 KB)
| 
楼主
标题置顶
标题高亮
