STM32F373MCU内部DAC输出测试，结论：输出‘断层’是器件参数中的差分非线性和积分非线性导致的
下图是12位DAC输出测试（Vref = 3V），34410A回读（NPLC=10，rang=10V）
X：设置值
Y：回读值-理论值
------------------------------------积分非线性
X：设置值
Y：后一回读值-前一回读值
理论上每增加1，电压会增加3/4096=0.7324mV. -----------------差分非线性
可见：输出在设置值从0xnFF到0xn00出现‘断层’,表现为后一个值增加的不明显（也就是正常情况下会增加0.7324mV,但是只增加了0.65mV）,从而导致放大后电压不稳定，导致精度达不到预定目标。
大家知道这是DAC输出的什么问题吗？
230828
问题原因；是由于差分非线性和积分非线性导致的测量误差，元器件选型时需注意这两个参数会直接影响到DAC输出和ADC回读准确性。
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