基本信息- MCU：STM32F105R8T6
- 库：HAL
- 平台：MDK
- 精度：12位
问题一现象：
在测量的时候，发现采样值在 1023 ~ 1042 和 1279 ~ 1290 两个区间之间无法测量 原因：
一开始还以为是我计算方式不对，折腾了很久才发现是采样导致的，发现这个现象后，有两个猜测
可能一：怀疑是放大电路的问题，出现了这样的死区，导致 MCU 无法测量 测试方法：用万用表测量放大后的信号是有变化的，并没有这样的死区存在，说明也不是放大电路的问题 可能二：怀疑是 MCU 的 ADC 通道损坏导致无法采集 测试方法：使用了多个 MCU 测量也是同样的现象，基本可以排除 MCU 的 ADC 通道损坏的可能，为了排除程序功能之间的影响，使用了单独的 ADC 采样 DEMO 程序测量时，居然没有这样的现象，到这里基本可以确定了是程序的问题，经过对比程序，最后发现是 ADC 时钟没有配置，绝望了。 解决办法：
只需要配置 ADC 采集通道的时钟即可，程序如下所示：
问题二
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