[技术讨论] 关于电子产品高低温老化

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 楼主| openwrt 发表于 2023-10-10 16:24 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 tyw 于 2023-10-11 07:37 编辑

我们产品都是在SMT后组装好

步骤1.  高温75°C ,持续24小时, 在设备不通电状态  。
步骤2.  接着再-30~75°C 高低温循环老化72小时,设备通电状态下。

步骤2:很好理解,高低温老化测试是一种非常重要的质量保证手段。

但请问步骤1 ,有什么用处? 是否可以不要这步骤,或者说这步骤没必要?
大家产品都是怎么高低温老化的?






                   tyw  注

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评论

@tyw :谢谢  发表于 2023-10-12 08:36
可以下载,谢谢  发表于 2023-10-11 09:23
tyw
@zps136631 :去油香收  发表于 2023-10-11 09:18
@tyw :下不来  发表于 2023-10-11 09:01
tyw
下了啃  发表于 2023-10-11 07:38
lfc315 发表于 2023-10-10 16:37 | 显示全部楼层
步骤1,是高温保存。
步骤2,是高低温使用。
lfc315 发表于 2023-10-10 17:07 | 显示全部楼层
如果设备内部有发热较大的部件,步骤1与步骤2还是有不同的。
zchong 发表于 2023-10-10 20:41 | 显示全部楼层
找找业内相关标准,一般是有规定的。
tdh03z 发表于 2023-10-10 22:56 来自手机 | 显示全部楼层
本帖最后由 tdh03z 于 2023-10-10 22:58 编辑

高温是对箱体内部烘干,减少空气湿度,防止后续高低温有露水
地瓜patch 发表于 2023-10-10 22:58 来自手机 | 显示全部楼层
tdh03z 发表于 2023-10-10 22:56
高温是对箱体内部烘干,减少空气湿度,防止后续高低温有露水

湿度低了易产生静电
ardtek 发表于 2023-10-11 08:54 | 显示全部楼层
低温-40度时,会有冰块。我倒认为这和实际应用环境更接近。不知各位怎么理解?——难道为了能过高低温试验,某些环节存在掩耳盗铃的嫌疑就可以不管?
jlc317 发表于 2023-10-11 09:08 | 显示全部楼层
预适应
 楼主| openwrt 发表于 2023-10-11 09:22 | 显示全部楼层
tdh03z 发表于 2023-10-10 22:56
高温是对箱体内部烘干,减少空气湿度,防止后续高低温有露水

两台不同设备
步骤1 是一台约2立方左右的仅高温设备
步骤2 是一台约6立方左右的高低温设备
ezcui 发表于 2023-10-11 13:44 | 显示全部楼层
这两项都是可靠性试验的常规项目
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