[研电赛技术支持] GD32F470多通道ADC,DMA模式偶发性出现OVR溢出现象。

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 楼主| 筆陵切 发表于 2023-11-17 10:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
ADC的时钟配置为18M,采样周期配置为144。上电后ADC采样与DMA缓存的数据都是正常的,一段时间后OVR中断产生。用了ADC1和ADC3,均为独立模式,ADC1用了9个采样通道+内部MCU温度采样 ADC3用了两个采样通道。外部触发模式,触发频率为9.6k。
 楼主| 筆陵切 发表于 2023-11-17 10:38 | 显示全部楼层
这里是ADC1的配置,请问一下大家,如何解决这种溢出现象呢
Dingtalk_20231117103319.jpg
申小林一号 发表于 2024-4-30 17:22 | 显示全部楼层
非常不错的帖子,值得推广扩散!!!
高级安全大使 发表于 2024-4-30 23:25 | 显示全部楼层
用了ADC1和ADC3,均为独立模式,ADC1用了9个采样通道+内部MCU温度采样 ADC3用了两个采样通道
大鹏2365 发表于 2024-6-30 23:24 | 显示全部楼层
通过优化 DMA 缓冲区大小和处理速度,以及调整 ADC 的转换速率和确保信号稳定性,可以有效减少或避免 ADC 的 OVR 中断问题。
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