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GD片上硬件过采样

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楼主
AdaMaYun|  楼主 | 2023-11-22 20:17 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
GD片上硬件过采样单元执行数据预处理以减轻 CPU 负担。它能够处理多个转换,并将多个转换
的结果取平均,得出一个 16 位宽的数据。其结果根据如下公式计算得出,其中 N 和 M 的值可
以被调整,过采样单元可以通过设置 ADC_OVSAMPCTL 寄存器的 OVSE 位来使能,它是以
降低数据输出率为代价,换取较高的数据分辨率。Dout(n)是指 ADC 输出的第 n 个数字信号:

GD片上硬件过采样单元执行两个功能:求和和位右移。过采样率 N 是在 ADC_OVSAMPCTL 寄
存器的 OVSR[2:0]位定义,它的取值范围为 2x 到 256x。除法系数 M 定义一个多达 8 位的右
移,它通过 ADC_OVSAMPCTL 寄存器 OVSS[3:0]位进行配置。
求和单元能够生成一个多达 20 位(256*12 位)的值。首先,将这个值要进行右移,将移位后
剩余的部分再通过取整转化一个近似值,最后将高位会被截断,仅保留最低 16 位有效位作为
最终值传入对应的数据寄存器中。

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沙发
guijial511| | 2023-11-23 08:11 | 只看该作者
硬件过采样实际上精度能提高多少呢?

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板凳
中国龙芯CDX| | 2023-11-29 12:28 | 只看该作者
GD片上硬件过采样单元执行数据预处理以减轻 CPU 负担,大大提升速率

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地板
单片小菜| | 2023-11-30 11:28 | 只看该作者
硬件采样只是让CPU减少负担,但是精度不一定达到

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5
pmp| | 2023-12-4 09:13 | 只看该作者
支持片上硬件过采样              

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6
yorkbarney| | 2023-12-4 09:52 | 只看该作者
过采样技术可以有效地降低噪声,提高系统的性能,满足高速、高精度信号处理的需求。

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7
jtracy3| | 2023-12-4 10:26 | 只看该作者
硬件过采样技术可以应用于需要高速数据采集的应用中

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8
mollylawrence| | 2023-12-4 11:32 | 只看该作者
ADC具有较高的分辨率和转换速度,可以在短时间内对模拟信号进行多次采样。

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9
kmzuaz| | 2023-12-5 11:03 | 只看该作者
过采样技术可以在一个周期内完成多次采样,减少了ADC的工作时间,从而降低了功耗。

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10
wengh2016| | 2023-12-5 11:46 | 只看该作者
GD32F303系列单片机具有硬件过采样功能,可用于提高ADC(模拟-数字转换器)的采样精度和抗干扰能力。

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11
updownq| | 2023-12-5 12:09 | 只看该作者
数字滤波器会从这些样本中提取出最接近真实信号的值。这样做的好处是可以提高ADC的动态范围和信噪比,从而获得更准确的结果。

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12
jimmhu| | 2023-12-5 14:30 | 只看该作者
GD32单片机的ADC支持多种采样模式,包括单次采样、连续采样、保持采样等

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13
robincotton| | 2023-12-5 15:10 | 只看该作者
过采样技术并不适用于所有的应用。

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14
jackcat| | 2023-12-5 15:32 | 只看该作者
在选择是否使用过采样技术时,需要根据实际应用的采样率和分辨率需求来决定。

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15
tabmone| | 2023-12-5 16:00 | 只看该作者
GD32单片机片上硬件过采样是通过在ADC采集过程中增加采样次数,将单轮采集时间转化为多轮采集时间来实现的。这样可以大大提高ADC的采样率,减少CPU的工作量。

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16
juliestephen| | 2023-12-5 16:44 | 只看该作者
GD32单片机的硬件过采样技术可以通过硬件对采样信号进行处理

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17
gygp| | 2023-12-5 17:01 | 只看该作者
过采样是一种提高模数转换器(ADC)分辨率的技术。在这个过程中,系统会以高于信号最高频率的速率对模拟信号进行采样。

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18
mmbs| | 2023-12-5 17:23 | 只看该作者
GD32单片机的片上硬件过采样功能使得数据采集和处理更为高效和准确。

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19
yeates333| | 2023-12-5 17:43 | 只看该作者
硬件过采样是指在ADC采样过程中,对输入信号进行多次采样,然后将采样结果进行平均或滤波,以减小噪声和误差的影响。

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20
iyoum| | 2023-12-5 18:05 | 只看该作者
硬件过采样技术可以提高模拟信号的采集精度,降低噪声,从而提高系统的性能。

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