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设计一个自动检测报警电路

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楼主
xluo4|  楼主 | 2012-5-10 22:00 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
沙发
NE5532| | 2012-5-10 22:05 | 只看该作者
看不懂,楼主再描述一下。

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板凳
xluo4|  楼主 | 2012-5-13 19:34 | 只看该作者
描述:一个金属载体上面放了21颗芯片,并且这个金属载体在一断轨道上被传送,正常情况下,这21颗芯片的表面高度大约高出载体约1MM,在非正常情况下芯片会高出载体约0-2MM厚。
问题:如何实现在非正常情况下检测出这0-2MM厚的高度?
要求:整个检测过程是在轨道传送过程中实时检测,并且要考虑到放在轨道上的载体高度可能随时会有波动,比如载体厚度误差,轨道平行度误差等。

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地板
xluo4|  楼主 | 2012-5-13 19:39 | 只看该作者


装芯片的载体

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shell.albert| | 2012-5-13 19:47 | 只看该作者
1、用光电对管吧,一个发射,一个接收,简单。
2、用数字图像分析,难!

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xluo4|  楼主 | 2012-5-13 19:53 | 只看该作者
图片描述要实现的功能

高度检测.jpg (52.64 KB )

高度检测.jpg

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NE5532| | 2012-5-13 20:10 | 只看该作者
楼主,正常情况的1mm高度包含在“错误状态”的0-2mm高度之内,这个定义是在看不懂啊。

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8
NE5532| | 2012-5-13 20:10 | 只看该作者
基本的建议就是,别把问题想复杂了。

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xluo4|  楼主 | 2012-5-26 22:09 | 只看该作者
楼主,正常情况的1mm高度包含在“错误状态”的0-2mm高度之内,这个定义是在看不懂啊。

这个应该这么描述:
   载体上面的芯片高出载体约1mm(正常情况)。
   载体上面有两颗芯片重叠起来了,所以比正常情况(载体 + 一颗芯片)还要高出约1mm。
问题:
   如何实时地检测出这大约1mm的高度?

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