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AT32F435-DVP-EV Board 测试例程
示例目的
演示如何使用AT32F435-DVP-EV Board 进行测试。
支持型号
AT32F435 系列
AT32F437 系列
主要使用外设
DVP
XMC
QSPI
I2C
SPI
1 快速使用方法
1.1 硬件资源
1) AT32F435-DVP-EV 开发板
2) OV2640 摄像头
3) TFT LCD
图1. AT32F435-DVP-EV 开发套件
注：开发板对应的电路原理图请参考：Doc\AT32F435_DVP_EV_V1.1_SCH.pdf
1.2 软件资源
1) 该Demo 以AT32F435 为例，BSP 版本AT32F435_437_Firmware_Library_V2.x.x；
2) 通过DVP 采集OV2640 摄像头数据，用于LCD 显示；
3) 通过XMC 传输各项数据至LCD 显示测试结果、摄像头画面、触摸等信息；
4) SDRAM 的数据读写同样是通过XMC 外设来实现；
5) 通过QSPI 来进行SRAM 存储芯片的读写。
注：所有project都是基于keil 5而建立，若用户需要在其他编译环境上使用，请参考
AT32xxx_Firmware_Library_V2.x.x\project\at_start_xxx\templates中各种编译环境（例如IAR6/7,keil 4/5）进行简单修改即可。
1.3 示例使用
1) 打开 \SourceCode\SC0124_SourceCode_V2.0.0\mdk_v5\dvp_ev.uvprojx 源程序，编译后下载到开发板；
2) 开发板复位后LCD会显示“ARTERY 雅特力科技”画面；
3) 两秒后LCD显示会自动切换至摄像头画面，如下图；
图2. 显示摄像头画面
4) 长按USER键4秒会关闭摄像头画面，切换至SDRAM读写测试界面，等待一段时间后会显示读写测试结果，如下图；
图3. SDRAM 读写测试界面
5) 短按USER键，切换至QSPI SRAM读写测试界面，并显示读写测试结果，如下图；
图4. QSPI SRAM 读写测试界面
6) 短按USER键，切换至触摸测试界面，如下图；
图5. 触摸测试界面
7) 再次按键将会回到初始界面。
代码及文档请参考：
SC0124_AT32_DVP_EV_Board_Test_Demo_V2.0.0.zip
(2.03 MB)
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