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四种典型的 PCB 老化测试

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forgot|  楼主 | 2024-2-20 11:20 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
老化测试:一种使用统计技术确定哪些组件和/或组件会及早发生故障的方法。
高度加速寿命测试 (HALT):这里的目标是对设备施加压力,直到它在严重过度运行中出现故障。这模拟了在将部署设备的实际环境条件下的过度操作。
高度加速应力测试 (HAST):与 HALT 类似,因为设计受到应力直至完全失效。
高度加速压力测试 (HASS):使用与 HASS 相同的环境压力,但级别较低,并且通常在完成完整的 HALT 测试之后。

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