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如何用数字源表测试二维材料电性能参数？

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whpssins|  楼主 | 2024-8-6 16:29 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
源表测试, 性能参数, iv曲线扫描仪, iv测试仪, 数字源表
源于超薄的厚度引起的量子限域效应，使得二维材料在透明电极、光电探测器、气敏电阻、太阳能电池等领域得到广泛应用。霍尔效应及电阻率是表征纳米材料电性能的重要手段之一。

测试面临的挑战
电阻率及霍尔效应测试均是加流测压的过程，需要设备具备电流源以及电压表的功能。
不同种类的材料，电阻范围超宽，从mQ~GQ;
材料的电阻率及电子迁移率通常范围较大，需要设备具备的电流范围大。


普赛斯SMU方案优势
1、数字源表(SMU)   集电压源、电流源、电压表、电流表与一体，集成度高，方便使用
2、动态方位大，电流覆盖从1pA到4A范围
3、电阻覆盖从mQ到TO.之间

四探针电导率测试.jpg (80.13 KB )

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