打印

如何通过GD32 MCU内部ADC参考电压通道提高采样精度?

[复制链接]
956|1
手机看帖
扫描二维码
随时随地手机跟帖
跳转到指定楼层
楼主
ADC采样精度受很多因素影响,比如电源波动、参考电压波动、输入信号波动等,GD32 MCU内部提供了一个参考电压通道,理论上可以优化由于电源和参考电压较大波动引入的采样误差。
如下图所示,GD32F303 ADC内部17通道为VREFINT参考电压通道,内部参考电压的典型数值为1.2V
当外部参考电压波动较大的情况下,如何通过内部参考电压通道提高ADC采样精度呢?
比如我们采样ADC_IN0通道的电压VIN0,那么采样的数值为:
其中,Rin0为通道0的采样数值,VIN0为通道0的输入电压,VREF为参考电压。
采样完通道0后,我们可以立即采样VREFINT内部参考电压,那么内部采样电压采样的数值为:
将公式1/公式2将得到:
进而得到以下公式:
由以上公式可得到通道0的电压值可通过内部参考电压以及内部参考电压的采样值来计算,可不受外部参考电压的变化而影响,进而提高了在外部参考电压波动较大的情况下采样误差的精度。
PS:建议可在外部参考电压较大的情况下使用该方法,如果外部参考电压比较准的话,还是可以直接采样的。
如有其他问题或建议,欢迎评论区讨论。

本教程由GD32 MCU方案商聚沃科技原创发布,了解更多GD32 MCU教程,关注聚沃科技官网,GD32MCU技术交流群:859440462


使用特权

评论回复
沙发
elephant00| | 2024-8-10 18:15 | 只看该作者
在模拟输入端加滤波电路,以减少输入信号的噪声和波动,从而提高采样精度。

使用特权

评论回复
发新帖 我要提问
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

170

主题

190

帖子

9

粉丝