如下图所示,GD32F303系列MCU在不同的ADC位宽情况下均具有对应的最高采样率,那这个最高采样率还可以提高吗? 答案是可以的。GD32F30X系列MCU可以支持双ADC内核,分别为ADC0和ADC1,且双ADC可以支持同步模式,同步模式可以支持常规并行模式、常规快速交叉模式和常规慢速交叉模式,其中可以使用ADC0和ADC1的交叉模式采样同一个通道,同步等效为提高ADC采样率。 下面以快速交叉模式为例来进行介绍: 以下为常规快速交叉模式工作示意图,常规触发后,ADC1立即启动采样,之后ADC0在7个ADC时钟周期后自动启动。 ADC0和ADC1采样转换的数据在快速交叉模式下会被自动放到32位的ADC0数据寄存器里,如下图所示,高16位存放是ADC1的采样数据,低16位存放的是ADC0的采样数据。这样当ADC1和ADC0采样完成后,使用ADC0对应的DMA通道搬运32位ADC0数据寄存器,就可以把ADC0和ADC1的采样数据进行搬运。 在快速交叉模式下,需要两个ADC的采样周期要小于7个ADC CLK,进而可以等效提高双倍ADC采样率。 另外慢速交叉模式,就是将两个ADC之间的启动间隔改成14个ADC CLK,其他工作原理一致。 以上即为本期讲解,如有建议或问题欢迎评论区讨论!
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