[STM32L4] 使用stm32l451片子,对ad7606进行3通道100k采样值跳动问题?

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 楼主| 两只袜子 发表于 2024-8-20 16:32 | 显示全部楼层 |阅读模式
本人使用的是stm32l451片子,对ad7606进行3通道100k采样,采5000个点,硬件spi速度为10m,主频80m,出来的数据fft计算之后的电流值不停地在跳动,请问是什么问题,采样部分用的是ll库函数,请大佬指点一下
y1n9an 发表于 2024-8-31 19:33 | 显示全部楼层
在使用STM32L451与AD7606进行高速采样时,出现FFT计算后的电流值跳动的问题,可能是采样同步问题导致的
b5z1giu 发表于 2024-8-31 19:46 | 显示全部楼层
一定要保证AD7606的采样与STM32的读取操作是同步的。如果采样和读取不同步,可能会导致数据丢失或错位
cen9ce 发表于 2024-8-31 20:15 | 显示全部楼层
检查SPI配置是否正确,包括SPI的时钟极性(CPOL)和时钟相位(CPHA)设置,以及数据传输的位顺序(MSB或LSB优先)。确保SPI的DMA配置正确,DMA传输是否完整无误
liu96jp 发表于 2024-8-31 20:57 | 显示全部楼层
确认采样率是否过高,导致数据处理不及时。检查是否有足够的时间进行数据处理,避免数据堆积
d1ng2x 发表于 2024-8-31 20:58 | 显示全部楼层
确认AD7606的配置寄存器设置正确,包括输入范围、过采样率、通道选择等。检查AD7606的电源和参考电压是否稳定
kaif2n9j 发表于 2024-8-31 21:06 | 显示全部楼层
我觉得可以看看采样数据的处理过程中没有数据溢出或截断。检查FFT算法是否正确实现,包括窗函数的选择和应用
lamanius 发表于 2024-8-31 21:21 | 显示全部楼层
检查PCB布局,确保模拟部分和数字部分有良好的隔离,减少干扰。使用适当的去耦电容和滤波措施,减少电源噪声
lix1yr 发表于 2024-8-31 22:09 | 显示全部楼层
使用逻辑分析仪或示波器检查SPI通信的时序和数据是否正确。逐步调试代码,确保每个步骤都按预期工作
p0gon9y 发表于 2024-8-31 22:49 | 显示全部楼层
这种跳动估计是有干扰了吧
suw12q 发表于 2024-8-31 23:44 | 显示全部楼层
你可以把你的电路图发出来看看吗?看你ADC采集部分
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