[MM32硬件] 灵动MCU的adc测试数据偏差大,是什么原因?

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 楼主| jf101 发表于 2024-10-31 19:34 | 显示全部楼层 |阅读模式
AD, ADC, MCU, dc
灵动MCU的adc测试数据偏差大,是什么原因?有什么措施可以减少ADC的误差?
suw12q 发表于 2024-12-17 23:43 | 显示全部楼层
灵动MCU的ADC(模数转换器)测试数据偏差大的原因可能有很多,比如在环境中的电磁干扰、电源噪声等都可能对ADC产生干扰,导致测试数据偏差大。

liu96jp 发表于 2024-12-18 22:23 | 显示全部楼层
不同型号的ADC有不同的分辨率和精度限制,如果使用的ADC分辨率和精度不够,可能导致测试数据偏差。

lix1yr 发表于 2024-12-19 21:14 | 显示全部楼层
如果ADC的输入信号调理电路存在问题,如放大电路、滤波电路等,可能导致信号失真或不稳定,从而影响ADC的测试数据。
如果采样速度不够快,可能无法捕捉到快速变化的信号,导致测试数据偏差。
在ADC的输入信号中加入滤波和去噪电路,减少外部干扰和电源噪声对ADC的影响。
选择更高精度和分辨率的ADC,根据需要选择更高精度和分辨率的ADC,以提高测试数据的准确性。
优化信号调理电路,优化ADC的输入信号调理电路,确保信号稳定、准确,并减少失真。
提高采样速度,根据需要提高ADC的采样速度,以捕捉到快速变化的信号。
进行校准和补偿,对ADC进行校准和补偿,以消除其内部误差和提高测试数据的准确性。有些MCU提供了内置校准功能,可以自动进行校准。
使用软件算法优化,采用适当的软件算法对ADC数据进行后处理,如数字滤波、平均值计算等,进一步提高测试数据的准确性。
kaif2n9j 发表于 2024-12-19 23:23 | 显示全部楼层
如果ADC的输入信号调理电路存在问题,如放大电路、滤波电路等,可能导致信号失真或不稳定,从而影响ADC的测试数据。

lamanius 发表于 2024-12-20 22:18 | 显示全部楼层
如果采样速度不够快,可能无法捕捉到快速变化的信号,导致测试数据偏差。

g0d5xs 发表于 2024-12-21 08:38 | 显示全部楼层
在ADC的输入信号中加入滤波和去噪电路,减少外部干扰和电源噪声对ADC的影响。

ex7s4 发表于 2024-12-21 09:18 | 显示全部楼层
选择更高精度和分辨率的ADC,根据需要选择更高精度和分辨率的ADC,以提高测试数据的准确性。

su1yirg 发表于 2024-12-21 11:23 | 显示全部楼层
优化信号调理电路,优化ADC的输入信号调理电路,确保信号稳定、准确,并减少失真。

t1ngus4 发表于 2024-12-21 13:45 | 显示全部楼层
提高采样速度,根据需要提高ADC的采样速度,以捕捉到快速变化的信号。

zhizia4f 发表于 2024-12-21 15:35 | 显示全部楼层
进行校准和补偿,对ADC进行校准和补偿,以消除其内部误差和提高测试数据的准确性。有些MCU提供了内置校准功能,可以自动进行校准。

tax2r6c 发表于 2024-12-21 23:02 | 显示全部楼层
使用软件算法优化,采用适当的软件算法对ADC数据进行后处理,如数字滤波、平均值计算等,进一步提高测试数据的准确性。
无法去污粉 发表于 2025-2-28 16:21 | 显示全部楼层
ADC的转换是基于参考电压的,如果参考电压不稳定,或不准确,会导致转换结果的误差。
yzdel7 发表于 2025-3-18 00:07 | 显示全部楼层
一般是这样,高精度应用需要自己进行零点和满度校准,先标定基准源,然后输入高精度标准信号源,先减掉0点的误差,再选择一个测试点,计算出系数,乘以相关系数。
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