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一个选值问题——硬件测量的目的是什么?

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美杜莎|  楼主 | 2024-11-4 15:27 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
硬件, TI, ma, FA, AN, se
本帖最后由 美杜莎 于 2024-11-4 15:29 编辑

之所以问这个问题,是因为,最近电路测试的时候,经常会针对某些参数,与同事发生争论,而争论来争论去,最终又得不到一个定论;
例如,我们板子25M的时钟,测量时测试报告上让我们记录fall time和rise time
于是我们用示波器自动卡值这两个参数;然后这个时候就出现了问题了:
示波器卡出来的fall time和rise time,分别有min值和max值,还有mean值;
于是有同事取值min填到报告里面去,有同事取值max,又有同事取值mean;
然后我们就开始争论,你为什么是min,你又为什么是max,你又为什么是mean呢?

min的同事解释:faill time和rise time的目的是看一下这个时间会达到多快,所以我肯定是取最小值啊;
max的同事解释:这一项的标准是要大于多少秒,肯定是往大了去选;
mean的同事解释:取平均值啊;
然后我们就又开始讨论,测试的目的是啥?是为了发现问题,那么发现问题肯定是取最恶劣的场景了;
对于rise time和fall time这一项来说,最恶劣的情况肯定是太快了,因为这种情况下对外辐射干扰最大;
但是有人不同意,认为最恶劣的情况是太慢了,导致波形失真了;
于是我们又没法达成一致;

所以不得不来问一下大神:
1.faill time和rise time究竟应该用哪个值,min max还是mean?
2.有没有这类关于测量的书籍推荐?

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沙发
Jack315| | 2024-11-5 09:04 | 只看该作者
本帖最后由 Jack315 于 2024-11-5 09:05 编辑

先放两个以前的帖子供参考:

六西格玛设计简介:
https://bbs.21ic.com/icview-1701786-1-1.html

六西格玛设计(DFSS)案例 —— 三角波发生器
https://bbs.21ic.com/icview-1709808-1-1.html

回头再来回答 LZ 的问题……



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