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电容充电和冲击电流限制

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skyraider|  楼主 | 2024-11-18 23:07 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
本帖最后由 skyraider 于 2024-11-18 23:16 编辑

断开开关应用中,经常需要给靠近负载侧的大电容充电。然而,常规的MOSFET是不适合限制流进大电容的冲击电流的,这是因为安全工作区和转移特性的限制,比如跨导。
因为漏极电流对门极电压的依赖性,即跨导,非常陡峭,控制MOSFET的冲击电流会变得非常有挑战性。此外,温度系数通常也会对SOA产生影响。因此,限制电流通常变成不可能的任务。MOSFET有2个工作区域,表现在转移特性上的热稳定和热不稳定区域,如图2所示。高正温度系数导致的热不均匀分布或者热失控,工作在热不稳定区域会导致严重的性能衰退。另一方面,即使工作在热稳定区域,芯片的热分布也是均匀的,大电流也会引起高的自发热。由于优化RDS(on)的MOSFET具有高ZTC的特点,几乎不可能令其可靠的工作在线性模式,这使得其不适合许多应用场合。

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