GD32F103单片机 ADC的同步采样（并行和交错）

发表于 2024-12-14 12:41

在进行同步采样前，需对 ADC 进行校准，以消除 ADC 模块内部的误差，提高转换精度。校准过程需按照芯片手册的要求进行操作，一般包括复位校准和自校准等步骤

发表于 2024-12-14 13:16

为开发板提供稳定可靠的电源供电，避免电压波动对ADC采样的影响。

发表于 2024-12-22 20:04

GD32F103单片机支持ADC的同步采样，包括并行和交错模式。并行模式多个通道同时采样，交错模式不同通道不同时刻采样。使用灵活，满足多种应用需求。

发表于 2024-12-27 15:27

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