本帖最后由 STM新闻官 于 2024-12-5 16:14 编辑
一般情况下,IDE 工具都自带了芯片内部 flash 的烧写算法。而实际项目中往往会有外扩 flash 的需求,在调试或下载程序时,烧写外部flash 则需要额外的 flashloader 程序支持。本文简要介绍如何在 IAR 工具中制作 flashloader 来烧写外部 flash 的原理及实现。
LAT1426 IAR flashloader 下载算法制作_v1.0.pdf
(348.26 KB)
在日常一些比较大的项目调试时,一般会通过串口打印许多调试信息,而很多重要信息会隐藏在一些不重要的信息中,如何才能让工程师快捷的看到需要的信息呢?这就是本 LAT 的目的,通过不同颜色区分不同的信息,从而让工程师快速的查看到想要的信息,提高调试效率。
LAT1440 如何在特定串口工具上以不同颜色显示信息_v1.0.pdf
(346.26 KB)
在使用 MC SDK 产生基于 STM32H745 工程的过程中可能会遇到一些问题,这边对这些问题做些简要说明,并探讨相关的解决方法。测试用板为 Nucleo-H745ZI。
LAT1440 如何在特定串口工具上以不同颜色显示信息_v1.0.pdf
(346.26 KB)
STM32CubeIDE 的工程联调功能太好用了,特别是调试 BOOT 和 APP 的场景下,可 以让大家清楚的看到程序是如何一步一步的从 BOOT 跳转到 APP 的,强烈的视觉冲击, 让人眼前一亮,拨云见日,让 bug 无处遁形。
LAT1424_STM32CubeIDE实用技巧之工程联调_V1.0.pdf
(860.24 KB)
本文通过对除 0 操作的报错机制做细致说明,可以看到整型除 0 可以有Hardfault 的中断产生,而浮点的除 0 只能通过标志位判别,实际使用过程中尽量避免这种错误的操作。
LAT1423_Cortex-M核除0操作的报错机制话题_v1.0.pdf
(515.22 KB)
大家知道,STM32CubeIDE 是支持“Debug”调试功能的,并且可以快速的得知其快捷键是“F11”。有客户问,这里的“Run”是什么意思呢,其实这里的 Run 是大家理解中的“Download”的含义,就是仅仅下载程序,不进入调试模式。然后就有了今天的主题,既然 Debug 有快捷键,那么 Run 的快捷键是什么呢?是否支持修改呢?答案是肯定有的,并且是可以修改的。
LAT1373_STM32CubeIDE实用技巧之快捷键的配置_V1.0.pdf
(561.22 KB)
由于在 MCU 上运行的应用程序越来越复杂,因此,对于在片外 Flash 运行代码的需求越来越多,特别是针对 Flashless 形态的 MCU 都需要用户自己开发Flashloader, 建议用户可使用与开发板一样的硬件接法。这样,就不必自己去重新开发 Flashloader 了。
LAT1384_基于STM32CubeIDE下载TouchGFX_GUI应用的出错分析_V1.0.pdf
(361.78 KB)
通常我们使用的 IDE 在调试时都支持在程序运行过程中实时观察窗口内容的功能,当启用这个功能后,实时观察窗口中包含的寄存器或变量的值会被周期性或重复性的进行采样,进而实现窗口内容的实时更新。 但是这个功能使用不当的话可能会导致一些问题,下面我们介绍这样一个外设通讯出错的案例。
LAT1376_启用“实时观察窗口”导致通讯出错的案例分享_v1.0.pdf
(1.12 MB)
在伺服变频器应用中,会用到 Singma-Delta ADC 进行采样,这时候如果客户使用到了STM32 自带的 DFSDM(Digital filter for sigma delta modulators)模块进行滤波,后面会与PWM 输出相关起来,这样有 Break 的封波需求,本文就这个功能以及注意事项做说明,使用STM32H723 芯片做测试验证。
LAT1364_DFSDM对TIM1的封波功能及注意事项_V1.0.pdf
(571.52 KB)
在产品开发时,经常会碰到在测试过程中或设备出厂后才发现程序异常,但当重新对设备仿真调试时却复现不出现场的问题,或者只通过保存的日志信息艰难分析代码运行到了何处而导致的异常。遇到这种场景,也并非无路可循。原则上只要我们通过仿真器调试时,做到代码不被重新下载覆盖,MCU 不被复位,就可能保留当前程序运行的状态,让 Bug 无处藏身。
LAT1325 调试小技巧之不复位调试_V1.0.pdf
(598.23 KB)
STM32调试实战经验合集-2
STM32调试实战经验合集-3
STM32调试实战经验合集-4
|