一、介绍
连接性测试，可以叫开短路测试，也可叫接触性测试，英文为Continuity Test或Open & Short Test，主要用来检验测试过程中电学连接是否良好，包括测试设备本身、测试设备与Loadboard、DUT本身等等，是否有不该出现的开路/短路出现。
连接性测试通常通过检查芯片的I/O上存在的保护电路实现，常见图如下。这些电路保护器件每一个输入和输出端免于ESD和其他过压的损坏。
二、原理
保护二极管的工作原理：
保护二极管（也称为安全二极管），主要应用于电路中，防止电路中的元件受到过压、过流等不良情况的损坏。二极管保护电路的原理是利用二极管的的单项导电性（即允许电流在一个方向上通过，而在另一个方向上阻止电流流动）来实现的，当电路中的电压或电流超过一定值时，二极管会导通，并将电流引导到地线或其他安全区域，从而保护电路中的元件不被过压、过流等不良情况损坏。
1、过压保护
过压是指电路中电压超过元件的额定电压，这可能会导致元件的损坏，在电路中，我们可以通过串联一个二极管来实现过压保护。当电压超过二极管的导通电压时，二极管开始导通，并将电流引导到地线或其他安全区域，从而保护电路元件不被过压损坏。
2、过流保护
过流是指电路中的电流超过了元件的额定电流，这可能会造成元件的损坏。在电路中，我们可以通过串联一个二极管来实现过流保护，当电流流过二极管是，会产生一定的压降，如果电流过大，二极管产生的压降也会过大从而将电流限制在安全的范围内，从而保护电路中元件不被过流损坏。
此外，保护二极管还有静电保护功能，可以在电压超过某个设定值时迅速导通，释放能量，从而保护电路免受高电压或雷击等情况的损害。
利用二极管的反向击穿特性：当ESD保护二极管处于反向偏压时，它会表现出很高的电阻，阻止电流的流动。然而，当反向电压超过二极管的击穿电压时，二极管会发生击穿，从而允许大电流流过。这个设计使得在正常情况下二极管不影响电路，而一旦出现高电压ESD事件时，二极管可以快速动作以保护电路。
三、流程
通过ATE对管脚的加电流测电压来测试，在实际的测试过程中，对地和对电源的保护二极管测试时通过控制管脚的电流方向来完成的，通常以ATE为参照，流出ATE的电流为正电流，流入ATE电流为负电流。
测试方法：
1、测试时，首先把所有引脚接地，包括电源引脚。
2、接下来把被测引脚接到ATE的PMU，由PMU施加一个很小的电流(一般为100uA，测试上二极管施加+100uA，称灌电流，测试下二极管施加-100uA，称为拉电流)，这个电流会使其中一个保护二极管正向导通，通过测量这个导通压降，判断被测引脚的开短路状态。
基于半导体材料的不同，二极管的正向导通压降有所差异，硅衬底的二极管导通压降一般在0.6V~0.7V之间，锗衬底的二极管导通压降一般在0.4V左右，一般将导通压降的绝对值上下限(Limit Setting，边界设置)分别设为1.0V和0.2V。
当测量电压的绝对值超过1.0V时，被测引脚判断为开路；当测量电压的绝对值小于0.2V时，被测引脚判断为短路(有些情况可能是无二极管)；设置钳位电压(Clamp Setting，钳位设置)绝对值要大于Limit，设置为0V~1.5V，否则会因为电压被钳位而造成虚假的通过。
需要注意的是，有时候对于高频器件的I/O（高频输入要求非常低的寄生电容）往往没有这样的保护二极管，这时候就需要采用其他方法来验证连接性（如检测芯片I/O漏电流、检测芯片I/O内部的电阻或电容等）。
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