MCU静电放电（ESD）的防护指标

1万 · 2025-1-9 13:22

在MCU的设计和应用中，静电放电（ESD）的防护能力是衡量产品可靠性的重要指标之一。其中高温Latch Up（闩锁）测试可以说明一定问题，CW32L010在高温Latch Up（闩锁）测试中表现出色，闩锁门限测试成绩高达±600mA，远高于行业一般水平，相比竞品一般水平为3~6倍。强大的ESD防护能够保护MCU内部数据不受静电放电的影响以及在各种环境下的长期稳定运行。