发新帖我要提问
返回列表
打印
[产品应用]

MCU静电放电（ESD）的防护指标

[复制链接]
34|0
手机看帖
扫描二维码
随时随地手机跟帖
跳转到指定楼层
楼主
forgot|  楼主 | 2025-1-9 13:22 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
ESD, MCU, sd, 防护, 静电放电
      在MCU的设计和应用中，静电放电（ESD）的防护能力是衡量产品可靠性的重要指标之一。      其中高温Latch Up（闩锁）测试可以说明一定问题，CW32L010在高温Latch Up（闩锁）测试中表现出色，闩锁门限测试成绩高达±600mA，远高于行业一般水平，相比竞品一般水平为3~6倍。强大的ESD防护能够保护MCU内部数据不受静电放电的影响以及在各种环境下的长期稳定运行。


使用特权

评论回复 赏
返回列表
发新帖 我要提问
高级模式
B Color Image Link Quote Code 收费 Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

forgot

1797

主题

13267

帖子

55

粉丝