在家电尤其是工业控制领域，诸如温度、湿度、压力、流量等信号的采集和处理控制，是关乎整个设备系统控制精度和稳定性至关重要的一环。不过受到设备所用电源纯净度、工作环境电磁干扰、温湿度等客观因素的影响，系统的精度和稳定性则有很大方面取决于MCU系统对相关信号的处理和完善。其实在各种所要面对的信号中，为了让MCU系统能够直接处理则需要加入ADC器件进行过渡和直连，而这也是决定系统精度的重中之重。那么MCU的ADC采样精度可以通过以下几种方法提高：
首先是增加采样率，这样可以减小数据采样误差，并且可以更为快速高效地反映出所检测信号的变化率，使整个系统的实时性更为准确；
其次是在硬件方面使用更高分辨率的ADC，毕竟只有高分辨率的IC才能匹配高精度；
再次是合理控制ADC的输入偏移，该种举措可以减少偏移对采样精度的影响；
最后是使用多通道采样，通过使用多通道采样，可以将采样误差分散到多个通道，从而减小对采样精度的影响，也就是所谓的平均值法。
当然凡事皆有两面性，上面四条常用的举措只是在不考虑系统成本和可操作性层面的理论操作，在实际工作中要综合考量侧重点，合理调配使ADC系统和MCU系统完美匹配才是最重要的。
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