N76E0003 RAM校验

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Zuocidian| 高级技术员

楼主 | 2025-2-22 22:03 | 只看该作者回帖奖励

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RAM

MCU 的安全性校验

MCU的安全性校验是非常重要的一步，下面介绍一下N76E003这个芯片的RAM校验：
1、n76e003这个芯片的RAM分片上RAM及片外RAM.
1.1 片上ram的起始地址是0x0000,片外RAM也是0x0000，片内RAM的大小是256 byte, 低128 byte是直接寻址，高128byte是间接寻址，片外RAM通过MOVX指令操作。
1.2 片内RAM的前面32byte是用作寄存器组，<absacc.h>头文件提供了DBYTE[],操作指针，具体如下：
for( i=32; i<256; i++)
{
DBYTE[0X0000+i] =0xFF;
if(DBYTE[0X0000+i] !=0xFF)
{
//RAM Error
}
DBYTE[0X0000+i] =0x00;
if(DBYTE[0X0000+i] !=0x00)
{
//RAM Error
}
}
通过这段代码可以检查片上RAM故障情况；
1.3 片外RAM，通过XBYTE[],具体如下：
for(i=0; i<768; i++)
{
XBYTE[0X0000+i] =0xFF;
if(XBYTE[0X0000+i] !=0xFF)
{
//XRAM Error
}
XBYTE[0X0000+i] =0x00;
if(XBYTE[0X0000+i] !=0x00)
{
//XRAM Error
}
}
通过这段代码可以检测片外RAM的故障情况；
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原文链接：https://blog.csdn.net/weixin_54997802/article/details/128488116

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