STM32的ADC精度如何提升？

发表于 2025-3-8 07:54

STM32的ADC精度能满足高精度测量需求吗？是否有方法优化ADC采样精度？如何避免噪声影响数据结果？

发表于 2025-3-18 19:01

在软件算法上采用滤波算法，如均值滤波、中位值滤波等

发表于 2025-3-18 19:13

对多次采样结果进行平均，可以有效减少随机噪声的影响。

发表于 2025-3-18 19:38

使用滤波电容和稳压器来减少电源噪声。

发表于 2025-3-18 19:46

模拟信号路径尽可能短，减少走线阻抗和噪声。

发表于 2025-3-18 19:57

使用外部参考电压

发表于 2025-3-18 20:11

数字滤波、温度补偿

发表于 2025-3-18 20:30

在电源和Vref引脚上并联去耦电容，可以滤除电源噪声和高频干扰，提高ADC的精度。建议使用uF级和nF级的电容并联，以滤除不同频率的噪声。

发表于 2025-3-18 22:00

对噪声敏感信号采用差分模式（如AINP/AINN），抑制共模干扰。

发表于 2025-3-18 22:14

在信号输入端添加低通滤波器

发表于 2025-3-18 22:27

使用高质量的参考电压源

发表于 2025-3-18 22:42

如果可能，使用差分输入模式，这可以减少共模噪声的影响。

发表于 2025-3-19 10:13

对连续采样值进行N次平均

发表于 2025-3-19 13:17

减少ADC输入引脚的布线长度，避免电磁干扰。

发表于 2025-3-19 16:33

使用一个低噪声、高精度的电源为ADC供电。
使用外部高精度参考电压源代替内部参考电压，以减少参考电压的误差。

发表于 2025-3-20 09:04

使用STM32的内置校准功能来校准ADC，以补偿电路线性和偏移误差。

发表于 2025-3-20 09:23

STM32的ADC通常支持多种分辨率，如12位、10位、8位等。选择更高的分辨率可以提升精度。

发表于 2025-3-20 09:35

对模拟信号线进行屏蔽，确保良好的接地，减少电磁干扰。

发表于 2025-3-20 10:38

增加SAMPLETIME以降低输入电容充放电噪声。

发表于 2025-3-20 10:59

STM32的ADC提供了校准功能，包括初始化时的自动校准和在每次采集数据时使用Vrefint通道进行校准。

[STM32F1] STM32的ADC精度如何提升？