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[STM32G4]

电机堵转检测异常触发

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CarterERO|  楼主 | 2025-4-20 16:00 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
用STM32G431的HRTIM做无刷电机控制,堵转保护逻辑在空载时误触发。电流采样电路加了二阶滤波,比较器阈值反复调整无效,是否因PWM死区时间设置不当引起电流检测相位偏差?

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沙发
回复就哭哭| | 2025-4-30 23:41 | 只看该作者
若死区时间过长,会使实际导通相位与预期存在偏差,从而影响采样窗口位置。

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板凳
公羊子丹| | 2025-5-26 07:23 | 只看该作者
是不是电流采样点跟实际导通时刻对不上,PWM死区时间确实可能让采样偏早或偏晚。

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地板
周半梅| | 2025-5-26 07:25 | 只看该作者
HRTIM控制的时候你有没有试过用ADC触发同步采样?有时候不对齐采样时机会有误判。

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5
帛灿灿| | 2025-5-26 07:26 | 只看该作者
二阶滤波虽然稳,但时延也大,建议先关掉试试是不是滤波延迟带来的假象。

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6
童雨竹| | 2025-5-26 07:27 | 只看该作者
你设置的堵转阈值是不是太敏感了?空载时的毛刺可能也触发保护逻辑。

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7
万图| | 2025-5-26 07:28 | 只看该作者
我之前也遇到类似情况,最后是在比较器前加了软延迟做确认才解决的。

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8
Wordsworth| | 2025-5-26 07:29 | 只看该作者
有没有在软件里加个平均或者中值滤波判断?单点比较很容易误触发。

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9
Bblythe| | 2025-5-26 07:30 | 只看该作者
死区时间设得太长确实会导致采样点偏离,需要结合导通时间校准一下采样延迟。

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10
Pulitzer| | 2025-5-26 07:31 | 只看该作者
建议你试试看用DMA方式采样一整波形,再离线分析采样点和实际电流波形的对齐情况。

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11
Uriah| | 2025-5-26 07:32 | 只看该作者
如果你用的是低边采样,也要注意电流反灌或寄生导通带来的尖峰误差。

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12
Clyde011| | 2025-5-26 07:32 | 只看该作者
另外一个方向是,你有没有试试用OpAmp+COMP直接进HRTIM Event来触发关断?硬件路径更稳定

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13
classroom| | 2025-5-26 12:04 | 只看该作者
最小化合理死区时间,平衡开关损耗与电流畸变。

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14
flycamelaaa| | 2025-5-26 14:00 | 只看该作者
精确配置HRTIM触发ADC的时序,补偿滤波器相位延迟。

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stormwind123| | 2025-5-26 19:00 | 只看该作者
硬件滤波器参数优化,在噪声抑制与相位延迟间取得平衡。

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