本次测试聚焦于SPI（串行外设接口），一种广泛应用于嵌入式系统及电子设备的高速、全双工、同步通信总线。为全面且有效地评估SPI接口功能，我们采用Loopback（回环）测试方法。SPI通信架构核心包含四个关键信号引脚：SCK（串行时钟）、MOSI（主出从入）、MISO（主入从出）及CS（从设备选择）。其中，SCK负责提供时钟信号以控制数据传输；MOSI用于主设备向从设备发送数据；MISO实现数据回传；CS则用于选定通信的从设备。Loopback测试的核心在于构建自环通路，通过短接主设备的MOSI与MISO引脚，实现数据在无外部设备介入下的闭环传输，以此迅速验证SPI接口的基本功能。
在实际复杂电子系统中，硬件连接问题常作为通信故障的主要诱因。外部设备可能遭遇接触不良、电磁干扰及引脚虚焊等问题，阻碍SPI通信的正常执行。利用Loopback测试技术，能有效将故障排查聚焦于SPI控制器本身，因该测试模式下，数据传输在主设备内部闭环完成，与外部设备连接状态无关。若测试成功，则表明SPI控制器硬件基本功能健全，从而排除硬件连接故障的可能性，为后续故障排查指明方向。Loopback测试显著简化了调试流程。在开发初期，外部从设备的准备耗时费力，涉及硬件连接、编程及配置等多方面工作。Loopback测试无需外部从设备，大幅缩短了测试准备时间，使开发人员能在开发环境搭建后立即进行SPI接口基本功能测试，快速验证硬件基础功能。这不仅提升了开发人员的专注度，集中于SPI控制器功能实现与优化，还提高了开发效率，缩短了产品开发周期。
为此我们需要找到SPI的MOSI（主出从入）、MISO（主入从出）引脚，我们看一下C092支持的SPI模块：
SPI1对应的引脚，默认如下：
PA6和PA7正好在arduino接口上：
实物连接如下：
接下来我们进行SPI的配置，
接下来编写一下SPI测试程序：
<p>void SPI_Loopback_Test(void) </p><p>{</p><p> uint8_t SPItx_buffer[16] = {0x01,0x02,0x03,0x04,0x05,0x06,0x07,0x08,</p><p> 0x09,0x0A,0x0B,0x0C,0x0D,0x0E,0x0F,0x10};</p><p> uint8_t SPIrx_buffer[16] = {0};</p><p>for(uint8_t i=0;i<16;i++)</p><p>{</p><p>SPItx_buffer[i] = key_cnt + i;</p><p>}</p><p> HAL_SPI_TransmitReceive(&hspi1, SPItx_buffer, SPIrx_buffer, 16, 100);</p><p> if(memcmp(SPItx_buffer, SPIrx_buffer, 16) == 0) {</p><p> HAL_UART_Transmit(&huart2, (uint8_t *)&SPIrx_buffer, 16, 0xFFFF);</p><p> }</p><p>}</p>
效果如下：
数据经串口接收后精准无误地发送出来，与传输内容完全一致，这一过程由按键触发，数值逐次递增。实际上，SPI接口的应用远不止于此，众多外设模块均广泛采用。例如，某些TFT屏幕的控制仅需发送信号，而更多情况下，它是传感器通讯的首选。但需留意的是，众多从机传感器需依赖主机提供的时钟信号，这意味着在数据读取时，主机还需扮演时钟驱动的角色。
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