中颖MCU的ADC采样值跳变较大，可能有哪些优化方向？

发表于 2025-5-26 15:25

常见现象：

排查方向：

硬件层面：
- 检查参考电压源稳定性（建议增加LC滤波）
- 模拟输入引脚并联100pF~1nF滤波电容
- 避免与高频信号（如PWM）共用电源回路
软件层面：
- 启用内部采样保持电容（SHCEN寄存器配置）
- 采用滑动窗口均值滤波（推荐8~16点队列）
- 校准内部基准电压偏移值（参考手册第9.3章）

大家在ADC采样中还遇到过哪些异常情况？具体解决方案是什么？

发表于 2025-5-27 11:26

ADC最好加入一些算法保证数据准确

发表于 2025-6-6 16:49

电源纹波或接地不良会引入噪声，导致ADC采样值波动。

发表于 2025-6-6 17:00

优化PCB布局后ADC噪声降低60%。

发表于 2025-6-6 18:00

在ADC输入端添加RC滤波器。

发表于 2025-6-6 19:00

长走线、信号环路或高频干扰会引入噪声。

发表于 2025-6-6 21:00

采用滑动平均滤波或者中值滤波。

发表于 2025-6-6 22:00

降低采样频率，用定时器或外部信号触发ADC采样，避免软件延时不确定性。

发表于 2025-6-6 23:00

避免同时采样高噪声通道和低噪声通道。

发表于 2025-6-13 21:00

ADC增益误差、偏移误差或温度漂移会导致采样值偏差。

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