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[STM32G0] ADC采样偏差太大，是不是内部参考电压不靠谱

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 楼主| Pulitzer 发表于 2025-6-1 08:45 | 显示全部楼层 |阅读模式
AD, ADC, ADC采样, dc, 电压
测电池电压，发现每次数据都差一截，VREFINT读出来波动也挺明显，不知道是不是内部不稳。
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Clyde011 发表于 2025-6-1 08:47 | 显示全部楼层
我干脆把原始ADC数据发上位机做校准了。
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公羊子丹 发表于 2025-6-1 08:47 | 显示全部楼层
内部参考电压确实会波动，特别是没滤波。
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周半梅 发表于 2025-6-1 08:48 | 显示全部楼层
建议外接基准源，会稳定很多。
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帛灿灿 发表于 2025-6-1 08:49 | 显示全部楼层
我以前拿VREFINT打表校准了一遍。
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童雨竹 发表于 2025-6-1 08:50 | 显示全部楼层
ADC增益误差也会拉大最终结果。
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万图 发表于 2025-6-1 08:50 | 显示全部楼层
你是不是用太快的采样周期了？
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Wordsworth 发表于 2025-6-1 08:51 | 显示全部楼层
看看Vref有没有加电容滤波。
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Bblythe 发表于 2025-6-1 08:52 | 显示全部楼层
ADC校准（HAL_ADCEx_Calibration）做了吗？
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 楼主| Pulitzer 发表于 2025-6-1 08:53 | 显示全部楼层
电源电压稳吗？波动影响ADC不少。
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Uriah 发表于 2025-6-1 08:55 | 显示全部楼层
G031的VREFINT确实不算很稳，属于正常。
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