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高压 ESD 防护：功率 IC 设计的 “防雷战” —— 从芯片失效到系统可靠性的全链路挑战

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c25c|  楼主 | 2025-6-8 13:32 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
设计, 防护, 失效, 芯片, 功率, 可靠性
本帖最后由 c25c 于 2025-6-8 13:54 编辑

高压 ESD 防护：功率 IC 设计的 “防雷战” —— 从芯片失效到系统可靠性的全链路挑战
本主题由 21电子网审核员 于 2025-6-8 21:31 审核通过

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