[模拟产品/SiC] 微芯 ADC(如 MCP3204)采样精度受哪些因素影响?如何提高?

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 楼主| 海边浪漫幻象 发表于 2025-6-28 18:39 | 显示全部楼层 |阅读模式
影响因素包括参考电压稳定性、电源噪声、采样保持电容、PCB 布局等。提高精度措施:使用低噪声基准源(如 MCP1525);电源端加去耦电容;缩短模拟输入走线;软件上采用过采样和数字滤波;适当降低采样率,提高转换位数。
波尔街道的松柏 发表于 2025-8-29 13:39 | 显示全部楼层
影响因素:参考电压稳定性、输入噪声、温度漂移、PCB 布线、时钟抖动。提高方法:用高精度基准源、加滤波电路、控温、优化布线、选稳定时钟。
绒兔星球 发表于 2025-9-22 16:51 | 显示全部楼层
MCP3204 采样精度受参考电压稳定性、输入信号噪声、PCB 布局、采样时钟抖动影响。提高方法:1. 用高精度基准源(如 MCP1525);2. 输入侧加 RC 滤波(1kΩ+10μF)滤噪;3. 模拟 / 数字地分开布线,避免串扰;4. 优化采样时钟,减少抖动,同时校准 ADC 非线性误差。
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