微芯 ADC（如 MCP3204）采样精度受哪些因素影响？如何提高？

发表于 2025-6-28 18:39

影响因素包括参考电压稳定性、电源噪声、采样保持电容、PCB 布局等。提高精度措施：使用低噪声基准源（如 MCP1525）；电源端加去耦电容；缩短模拟输入走线；软件上采用过采样和数字滤波；适当降低采样率，提高转换位数。

发表于 2025-8-29 13:39

影响因素：参考电压稳定性、输入噪声、温度漂移、PCB 布线、时钟抖动。提高方法：用高精度基准源、加滤波电路、控温、优化布线、选稳定时钟。

发表于 2025-9-22 16:51

MCP3204 采样精度受参考电压稳定性、输入信号噪声、PCB 布局、采样时钟抖动影响。提高方法：1. 用高精度基准源（如 MCP1525）；2. 输入侧加 RC 滤波（1kΩ+10μF）滤噪；3. 模拟 / 数字地分开布线，避免串扰；4. 优化采样时钟，减少抖动，同时校准 ADC 非线性误差。

发表于 2025-10-30 09:11

MCP3204 采样精度主要受参考电压、输入信号噪声、温度漂移影响。提高方法有：用高精度基准源（如 REF5025）稳定参考电压；加 RC 滤波电路抑制输入噪声；在温度波动大的环境中做温度补偿或选低温漂器件。

[模拟产品/SiC] 微芯 ADC（如 MCP3204）采样精度受哪些因素影响？如何提高？