MCU抗扰性能

2万 · 2012-6-16 19:22

用交流接触器中的线圈两端各引出一根线
然后一根接到零线上
另一根绕上几个圈后放到MCU上面
然后用这根线的线头去触碰火线
由此引入干扰
可以测测单片机以及周边电路的抗扰性能。

2万 · 2012-6-16 19:23

我比较过两种电路：
一种是DIP的，由于陶振靠的比较近，而且频率不高，几十KHZ吧，基本上能绕三圈也不出问题吧
另一种是贴片的，80个引脚（引脚间距是0.3mm），陶振离得比较远，8MHZ，所以基本上一圈貌似都不行

所以希望大家可以提提意见，看看怎么样才能使单片机运行得更稳定呢？

1万 · 2012-6-16 19:25

我现在也有大功率的接触器做MCU的抗干扰测试，这东西很强悍的，要是USB鼠标放的比较近，有时鼠标也抗不住，就挂了

2万 · 2012-6-16 19:25

可以测布线是否合理，程序设计是否合理问题，但毕竟这程测试方法是拿不出台面的东西

2万 · 2012-6-16 19:27

楼上能不能给出些比较具体的数据呢？
比如说单面板打正面的话基本上可以扛几圈？
打背面的话又能扛几圈？

2万 · 2012-6-16 19:27

打双面板的话情况又是什么样的？
又是如何改善这些情况的？

2万 · 2012-6-16 19:29

这个其实是群脉冲测试

1万 · 2012-6-16 19:29

群脉冲只是其中的一种干扰源，这个一般至少还伴随着强烈的电火花干扰源，如果你再绕成几圈的话，还等效出一定的断续工作电流环路效果

1万 · 2012-6-16 21:35

嗯，我们都知道，断续工作的电流环路往往都伴随着电磁场的交变

1万 · 2012-6-16 21:36

所以，这也是一种干扰源。

2万 · 2012-6-16 21:37

哦，了解，呵呵

2万 · 2012-6-16 21:37

先结贴了

1万 · 2012-6-17 17:13

一般是电源引入的。多用点心思到电源会有意想不到的结果。