BCI测试实际测试的是板子硬件电源的稳定性和性能，所以每一家的测试结果和解决问题的方法并不完全相同，常用的方法总结如下：
一：硬件措施：加大串联电阻会有一定的效果，但是并不一定可以完全解决问题, 要看实际测试结果。 增加串阻可能需要适当的降低 sense clock 的频率，确保按键的开关信号能够重新充放电。
二. 固件改善措施:
Step1: 确保 Creator-->.cydwr-->System-->Operating Conditions 中的 VDDA和VDDD的设置电压与实际电压相符。确保按键的扫描不是连续的，而是间隔扫描（比如 10ms 扫一次） 然后把 low baseline reset 值改为 250。连续扫描下，由于间隔很短，debounce/low baseline reset 等多个参数无法起到实际的用途。
Step2 在 CapSense 组件 Advanced Expression View 中找到CsdVrefV2参数，然后把他的值设置从 -1(默认)改成 (VDDA-0.6)V（如果 VDDA是5V，这个值设置为 5-0.6=4.4V），原理上VREF 的值越大，抗干扰能力越强，该措施仅适用于 PSoC4 -S 系列的芯片。
Step3: 如果 step2 无法解决问题，那么请把CsdVrefV2 的参数恢复默认的 -1 然后尝试 IDAC Sink 模式，看效果如何。
Step4（使用最多的就是该方法）: 使能 多频扫描（建议 DIRECT 模式），使能了 multi-freq-scan 功能的前提下，在 CapSense 组件 Advanced Expression View 中可以找到MultiFreqScanMethod，CsdMFSDividerOffsetF1 和 CsdMFSDividerOffsetF2 这三个参数。MultiFreqScanMethod 选择 change sense clock。 另外两个参数可以用来调整多频点的具体频率，建议把三个扫描频率之间的间隔设置的大一些，同时确保任何一个频率避开COM/SEG 频谱的波峰。
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Multi-Freq-Scan 的开关频率修改是通过修改 sense clock 的 divider 来实现的。比如说Modulation clock = 12MHz, Sense Clock =3MHz 的参数设置对应的 sense clock divider = 4， 如果对此sensor 做 multi-scan 的话，那么采用的开关频率是：
频率1：Divider = 4, SnsClk = 3MHz
频率2：Divider = 4 + CsdMFSDividerOffset1 = 4 +1 = 5, Snsclk = 12MHz/5 = 2.4MHz
频率3：Divider = 4 + CsdMFSDividerOffset2 = 4 +2 = 6, Snsclk = 12MHz/6 = 2 MHz
其中 CsdMFSDividerOffset1 以及CsdMFSDividerOffset2 的具体值可以在 Advanced Expression View 中做手动修改，也就是说频率的偏移是可以手动控制的。
step4的操作步骤也可以参考下面这个链接：
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Step5: 如果STEP4 有效单无法根除，建议每个 widget 分离成两个或三个 widget，然后设置不同的 sense clock（建议 DIRECT 模式）。
Note1: 进入CapSense 组件 Advanced Expression View 的方法：
Creator->Tools->Options->Design Entry-->Component Catalog>Enable Param Edit Views(使能)
双击CapSense 组件，光标移动到 Advanced Tab 右击选择 show expression view.
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