[学习资料] 应用笔记-使用dsPIC33A器件上的过采样功能实现更高的ADC分辨率

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 楼主| jcky001 发表于 2025-8-7 16:46 | 显示全部楼层 |阅读模式
ADC的主要特性是分辨率。通过对输入信号进行过采样,可以实现更高的转换分辨率。有关过采样的原理,请参见应用笔记AN1152——《采用过采样技术实现更高的ADC分辨率》(DS01152A_CN)。
ADC分辨率与信噪比(Signal-to-Noise Ratio,SNR)成比例。
公式1给出了SNR与分辨率之间的关系:
公式1. SNR与分辨率之间的关系

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玛尼玛尼哄 发表于 2025-8-8 14:06 | 显示全部楼层
是提高精度吧,分辨率都是固定的。
旧年胶片 发表于 2025-8-27 13:39 | 显示全部楼层
该应用笔记介绍利用 dsPIC33A 器件过采样与抽取方法,在不依赖外部 ADC 的情况下提升分辨率。通过特定信号处理,累积样本并右移对应位数,可将 12 位 ADC 分辨率最高扩展至 16 位。
野玫瑰 发表于 2025-9-4 14:35 | 显示全部楼层
dsPIC33A 器件可通过过采样功能提高 ADC 分辨率。其 ADC 内核原本分辨率最高为 12 位,利用过采样技术,每将采样频率提高 4 倍,可增加 1 位精度。通过设置相关寄存器,对多个采样值进行累加和右移处理,可实现从 12 位到 16 位的分辨率提升。
水星限定 发表于 2025-9-27 15:45 | 显示全部楼层
dsPIC33A 器件的过采样功能可提升 ADC 分辨率。通过设置通道控制寄存器的模式位启用该功能,利用硬件过采样累加器对输入信号进行多次采样累加,配合抽取操作,将结果右移适当位数,可实现更高的有效位数,从而提高 ADC 分辨率。
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