STM32内部ADC校准问题

只看该作者 · 2012-6-21 11:29

手册中讲到：上电后需要校准一次ADC来减小误差，校准码存储在ADC_DR寄存器中。
问题1：这样的话，是不是应该把这个结果保存起来，以后每次转换得到的数据减去这个校准值，才能得到一个相对正确的结果。（对于规则通道）
问题2：对于注入通道，它有个注入通道数据偏移寄存器（ADC_JOFRx），注入通道转换结束后会自动减去这个寄存器的值，最终结果放在ADC_JDRx寄存器中。这样的话，写入ADC_JOFRx的值是不是应该在做系统校准（不仅是ADC）时，得到的系统0偏值。
问题3：ST对于上面讲的这两种模式为啥要做成不同呢？（假设我的理解是正确的）

希望高手指点，不知道我的理解是否正确。

只看该作者 · 2012-6-21 11:53

自己顶起来@

只看该作者 · 2012-6-21 14:41

怎么没有关心这个问题呢？

只看该作者 · 2012-6-27 08:52

用实验数据说话，但是真搞不懂STM32内部ADC是怎么自校准的。
校准完成后，在ADC_DR寄存器读到的结果为60，后面正常测量的结果约1226；假如不校准，正常测量时读到的结果约1166。
这样不是很奇怪吗？按照通常的理解：如果不校准，得到的结果应该是60+1226（假设只是校准0偏）。由此推断：ST的ADC自校准不仅仅是校准0偏，应该还包括增益，然后算了一个结果出来。在测量的时候加上这个值。
不知上面的理解是否正确，请高手指正。

只看该作者 · 2012-6-27 09:07

应该是对的，系统电压可能不稳定，所以校准后的AD很准确，保存基值，在采样的结果里减去基值

只看该作者 · 2012-6-27 13:13

應該是ADC 有offset issue, 且跟隨製程不同有偏差之因.所以要個別校正

1万 · 2016-1-8 16:28

STM32内部参照电压VREFIN的使用

STM32的内部参照电压VREFINT和ADCx_IN17相连接，它的作用是相当于一个标准电压测量点，内部参照电压VREFINT只能出现在主ADC1中使用。

内部参照电压VREFINT与参考电压不是一回事。ADC的参考电压都是通过Vref+提供的并作为ADC转换器的基准电压。

当我们使用的Vref+是直接取自用VCC电压时，当VCC电压波动比较大时或稳压性能比较差时，可以借用STM32的内部参照电压VREFINT校正测量精度。

以测量1通道的电压值为例，先读出参照电压的ADC测量结果，记为ADre；再读出要测量通道1的ADC转换结果，记为ADch1；则要测量的电压为：

Vch1 = VREFINT* (（（ADch1*（VREF/4096））/（ADre*（VREF/4096））)

注：VREFINT=1.2V，VREF为参考电压值=3.3V

公式简化：

Vch1 = VREFINT*（ADch1/ADre）

这种方法等于变相将内部参照电压VREFINT当成是ADC参考电压，也就是说，此时Vref参考电压的准确度已在此已对结果影响不大了，ADC的转换结果基本由VREFINT的精度决定。

注：一般情况下，这种办法只适合于当Vref+参考电压（其实也就是VCC电压）离散性实在太差的情况下使用。

我们知道，STM32中64脚和小于64脚的型号，Vref+在芯片内部与VCC信号线相连，没有引到片外，这样AD的参考电压就是VCC上的电压，那么我们可以使用一个高精度的外部参照电压，然后用上面的方法，也许可以解决因VCC电源电压精度不高带来的ADC测量不准确的问题。

建议采用以下方法结合使用：
1，采用内部参考
内部参考在芯片出厂时已经校准过精度了！（不清楚是否所有型号都校准过）
其厂内校准过程是在外部供3V电源，将采样内部参考的ADC值写入校准寄存器VREFINT_CAL！
因此，我们可以使用以下公式算出实际电压：
V=(3*VREFINT_CAL*ADC_DATA)/(VREFINT_DATA*FULL_SCALE)
根据这个公式，程序需要获取VREFINT_DATA和ADC_DATA!
不过我们实际测试这个电压参考在低温下偏差比较大，可能是芯片本身的问题，目前还不清楚是全系列，还是个别型号有这个问题！
2，使用过采样!

1万 · 2016-1-8 16:33

stm32中开始指定ADC的校准状态是是否是是0点位误差校正

STM32内部ADC校准问题

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