[STM32G0] ADC采样值偶尔突然跳变,感觉像瞬间丢了一帧数据

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周半梅 发表于 2025-10-7 07:48 | 显示全部楼层 |阅读模式
在测NTC温度,ADC通过DMA采样到内存,正常时波形平滑,但偶尔出现一个异常尖点。采样频率2kHz,采多通道。感觉像某次DMA没写入或被覆盖。试过关Cache、换通道都一样。
Clyde011 发表于 2025-10-7 07:53 | 显示全部楼层
我有次发现是DMA目标内存被其他任务意外写到了。
公羊子丹 发表于 2025-10-7 07:56 | 显示全部楼层
我之前也是多通道采样时偶尔掉一个值,后来改成单通道循环就没事。
 楼主| 周半梅 发表于 2025-10-7 07:56 | 显示全部楼层
DMA的优先级是不是太低了?可能被别的中断打断了。
帛灿灿 发表于 2025-10-7 07:58 | 显示全部楼层
是不是ADC校准没做?跳点可能来自参考电压不稳。
童雨竹 发表于 2025-10-7 07:59 | 显示全部楼层
我觉得你可以加个滤波算法,把单点异常过滤掉先看趋势。
万图 发表于 2025-10-7 08:01 | 显示全部楼层
NTC的引线太长的话,外部干扰也容易造成毛刺。
Wordsworth 发表于 2025-10-7 08:02 | 显示全部楼层
你可以试试触发改成软件触发,看跳点是否减少。
Bblythe 发表于 2025-10-7 08:03 | 显示全部楼层
用示波器看看Vref电压是不是在波动。
Pulitzer 发表于 2025-10-7 08:04 | 显示全部楼层
有些G0的ADC在高速采样下需要延时稳定时间。
Uriah 发表于 2025-10-7 08:04 | 显示全部楼层
可以尝试加采样周期,比如从12cycles改成24cycles。
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