[STM32L4] 内部温度传感器读数波动大,怀疑ADC校准问题

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Uriah 发表于 2025-10-9 07:30 | 显示全部楼层 |阅读模式
读取内部温度传感器时,发现数据波动挺大,环境温度没怎么变但读值飘动2-3度。尝试加平均滤波稍好,但感觉根本偏差还是大。怀疑是ADC校准系数没加载或参考电压不稳。
Clyde011 发表于 2025-10-9 07:32 | 显示全部楼层
采样间隔拉长一点会稳定些。
公羊子丹 发表于 2025-10-9 07:33 | 显示全部楼层
内部温度传感器本来精度就不高,大概±2度。
周半梅 发表于 2025-10-9 07:34 | 显示全部楼层
你有没有在每次启动前校准ADC?
帛灿灿 发表于 2025-10-9 07:35 | 显示全部楼层
我试过加多次采样平均,效果明显。
童雨竹 发表于 2025-10-9 07:36 | 显示全部楼层
VREF不稳确实会让读数乱跳。
万图 发表于 2025-10-9 07:37 | 显示全部楼层
试试用内部参考电压通道比对一下。
Wordsworth 发表于 2025-10-9 07:38 | 显示全部楼层
我在低功耗模式下发现ADC参考会漂。
Bblythe 发表于 2025-10-9 07:39 | 显示全部楼层
你可以先测一次固定温度点算偏移量。
Pulitzer 发表于 2025-10-9 07:39 | 显示全部楼层
STM的温度通道建议在满温区校准。
 楼主| Uriah 发表于 2025-10-9 07:41 | 显示全部楼层
我觉得波动也可能是MCU内部发热。
cr315 发表于 2025-10-9 10:37 | 显示全部楼层
ADC校准缺失?
elephant00 发表于 2025-10-9 10:38 | 显示全部楼层
采样时间不足吗?
duo点 发表于 2025-10-9 13:37 | 显示全部楼层
参考电压不稳定吧!
flycamelaaa 发表于 2025-10-9 14:39 | 显示全部楼层
建议用外部高精度基准源,替代默认的VDDA或内部VREFINT。
jcky001 发表于 2025-10-9 15:39 | 显示全部楼层
若必须使用内部VREFINT,需通过ADC通道17读取其值,并结合出厂校准值进行动态补偿。
onlycook 发表于 2025-10-9 15:40 | 显示全部楼层
温度传感器输出阻抗较高,需设置足够长的采样时间。
onlycook 发表于 2025-10-9 17:41 | 显示全部楼层
建议ADC电源引脚添加10μF+0.1μF去耦电容,模拟走线与数字走线间距保持>3倍线宽,敏感信号采用Guard Ring保护。
powerantone 发表于 2025-10-9 19:43 | 显示全部楼层
滑动平均滤波,通过DMA连续采集16次数据并取平均,减少随机噪声
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