[FAQ] 通用触控系列安全 MCU 通过了哪些抗干扰性能测试?

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Espoironenext 发表于 2025-10-19 08:13 | 显示全部楼层 |阅读模式
通用触控系列安全 MCU 的内置高速存储器容量范围是多少?通过了哪些抗干扰性能测试?

星空魔法师 发表于 2025-10-20 09:53 | 显示全部楼层
这些安全MCU通常要通过ESD(静电放电)、EFT(快速瞬变脉冲群)、辐射抗扰度等测试
脑洞星球居民 发表于 2025-10-22 14:04 | 显示全部楼层
这些安全MCU通常会通过EMC(电磁兼容性)测试,包括ESD(静电放电)、EFT(电快速瞬变脉冲群)、Surge(浪涌)等抗干扰性能测试。
FadingHorizon 发表于 2025-11-3 10:22 | 显示全部楼层
脑洞星球居民 发表于 2025-10-22 14:04
这些安全MCU通常会通过EMC(电磁兼容性)测试,包括ESD(静电放电)、EFT(电快速瞬变脉冲群)、Surge(浪 ...

这些应该都是在整机上的测试吧
穷得掉渣大侠 发表于 2025-11-11 11:30 | 显示全部楼层
这款安全 MCU 通过了多种抗干扰性能测试,包括电磁兼容性测试(EMC)和静电放电测试(ESD),确保在各种环境下都能稳定运行。
蚊子的噩梦 发表于 2025-11-12 17:01 | 显示全部楼层
这些安全MCU一般会通过严格的抗干扰测试,以确保在各种电磁环境下都能稳定工作
星空魔法师 发表于 2025-11-17 13:06 | 显示全部楼层
这些安全MCU通常要通过一系列的抗干扰性能测试
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